基于LASAR的數(shù)字電路可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法研究.pdf

1、近年來(lái)，隨著電子電路技術(shù)的飛速發(fā)展，電子設(shè)備功能和結(jié)構(gòu)的日益復(fù)雜，電路測(cè)試在電路和系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的作用越來(lái)越重要，測(cè)試開(kāi)銷所占的比例也隨之不斷上升。實(shí)踐表明，對(duì)一個(gè)不具有可測(cè)試性的電路進(jìn)行測(cè)試是徒勞的。因此，在電路的設(shè)計(jì)階段就考慮電路的測(cè)試問(wèn)題，對(duì)電路進(jìn)行可測(cè)試性設(shè)計(jì)是十分必要的。 目前常見(jiàn)的可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法主要有改善設(shè)計(jì)法、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)法和邊界掃描測(cè)試法等幾種。它們通常需要增加額外的測(cè)試電路和控制邏輯，在提高可測(cè)試性的同時(shí)也增加了電路

2、復(fù)雜性。而隨著故障診斷技術(shù)的發(fā)展，可以利用專業(yè)工具的仿真功能對(duì)實(shí)際電路進(jìn)行仿真，從而在電路的設(shè)計(jì)階段便通過(guò)軟件來(lái)進(jìn)行可測(cè)試性分析。 LASAR（邏輯自動(dòng)激勵(lì)與響應(yīng)）便是這樣一套用于數(shù)字電路測(cè)試開(kāi)發(fā)和邏輯分析的仿真軟件系統(tǒng)。使用LASAR軟件進(jìn)行數(shù)字電路的可測(cè)試性設(shè)計(jì)可以分為電路建模、編譯激勵(lì)、好板仿真和故障仿真幾個(gè)步驟。對(duì)于一個(gè)被測(cè)電路，首先要用網(wǎng)表語(yǔ)言對(duì)其結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行描述，并在器件模型庫(kù)中找到電路元件的對(duì)應(yīng)模型，由模型編譯器

3、對(duì)這兩部分內(nèi)容進(jìn)行編譯，建立被測(cè)電路的仿真模型。然后用激勵(lì)描述語(yǔ)言對(duì)輸入激勵(lì)進(jìn)行描述，并通過(guò)激勵(lì)編譯器對(duì)激勵(lì)描述文件進(jìn)行編譯。將編譯過(guò)后的激勵(lì)施加到無(wú)故障的電路模型中進(jìn)行好板仿真，其結(jié)果輸出為結(jié)點(diǎn)響應(yīng)和時(shí)序冒險(xiǎn)兩部分內(nèi)容。結(jié)點(diǎn)響應(yīng)為被測(cè)電路對(duì)于輸入激勵(lì)的響應(yīng)波形，可以通過(guò)波形查看工具PERUSE進(jìn)行觀察分析。時(shí)序冒險(xiǎn)則列出了電路中可能遇到的各種冒險(xiǎn)。對(duì)于永久冒險(xiǎn)，需要修改輸入激勵(lì)或電路結(jié)構(gòu)將其消除。而對(duì)于非永久冒險(xiǎn)，如果不影響電路的正常

4、運(yùn)行，可以不予考慮。故障仿真則是對(duì)帶有故障的電路模型進(jìn)行的仿真。將需要設(shè)置的電路故障編輯成故障列表文件，經(jīng)編譯之后由故障注入器注入電路模型并施加激勵(lì)進(jìn)行仿真。仿真器將故障仿真的結(jié)果與好板響應(yīng)進(jìn)行比較，輸出故障覆蓋率信息和故障字典數(shù)據(jù)庫(kù)。分析這些故障診斷信息，可以對(duì)被測(cè)電路的可測(cè)試性作出判斷。最后，LASAR與后處理軟件和目標(biāo)測(cè)試儀可以組成故障診斷專家系統(tǒng)。后處理軟件將LASAR仿真的結(jié)果轉(zhuǎn)換成測(cè)試儀支持的格式，以對(duì)實(shí)際電路進(jìn)行測(cè)試。