BDD在組合電路測試中的應(yīng)用研究.pdf

1、隨著集成電路設(shè)計規(guī)模不斷增大，其出現(xiàn)故障的可能性也相應(yīng)增加，這導(dǎo)致故障測試變得越來越重要。準確快速地檢測出故障，可以加快電路設(shè)計的進程，進而產(chǎn)生巨大的經(jīng)濟效益。二元判決圖是一種表示布爾函數(shù)的有效方法，在計算機科學(xué)以及數(shù)字電路與系統(tǒng)等領(lǐng)域中有廣泛的應(yīng)用。本文主要研究二元判決圖在組合電路測試中的應(yīng)用。 首先，介紹了二元判決圖的原理，說明了變量排序?qū)τ诙袥Q圖體積的影響。在此基礎(chǔ)上，提出了一種啟發(fā)式變量排序算法，它能夠用較短的運算時

2、間得到良好的變量排序。 其次，介紹了二元判決圖的操作，舉例說明使用apply與reduce算法建立邏輯函數(shù)的二元判決圖方法，比較了該方法和ITE算法的優(yōu)缺點，并對ITE算法提出了兩條改進的措施。 再次，研究了二元判決圖在組合電路的故障檢測中的應(yīng)用。二元判決圖測試生成方法克服了傳統(tǒng)測試方法需要多次回溯的缺點，減少了測試生成的時間，節(jié)省了測試的成本。但是現(xiàn)有的二元判決圖測試生成方法復(fù)雜度比較高，本文將BDD與通路敏化法相結(jié)合