自相關過程的SPC評價.pdf

1、傳統(tǒng)的統(tǒng)計過程控制理論基于數據統(tǒng)計獨立的假設，而在有些實際生產過程中，采集到的數據往往會存在自相關。當存在數據自相關現象時，序列相關對質量控制圖監(jiān)控過程的能力有極大的影響，可能增加過程異常的錯誤報警，也可能漏發(fā)過程異常的真實報警。因此，本文對質量控制圖序列相關處理理論及方法進行了深入系統(tǒng)研究，對進一步完善質量控制圖的理論體系具有重要的理論意義；同時，也為實際工作中正確使用質量控制圖提供了指導，對保證產品質量具有較高的實際價值。

2、本文首先介紹了SPC與常規(guī)控制圖技術、自相關及時間序列的基礎理論和知識。然后給出了處理自相關過程的兩種方法：修正控制限控制圖和殘差控制圖。 修正控制限控制圖的優(yōu)點在于不需要用時間序列模型來擬合測量值，只要過程處于平穩(wěn)狀態(tài)，利用其自協方差函數和自相關函數，即可得出最終的控制界限，從而繪制出自相關過程的控制圖。 殘差控制圖是利用時間序列模型的殘差來控制自相關過程質量的一種方法。分析結果表明：當過程存在自相關時，運用殘差控制圖