自相關(guān)過程質(zhì)量控制圖效果研究.pdf

1、統(tǒng)計過程控制主要是運(yùn)用各類控制圖對過程進(jìn)行監(jiān)控，以確保過程處于平穩(wěn)狀態(tài)。當(dāng)過程出現(xiàn)異常情況時，控制圖要能夠及時的發(fā)出警報。傳統(tǒng)控制圖的建圖前提是基于過程獨(dú)立同分布，然而現(xiàn)實(shí)生產(chǎn)中往往存在自相關(guān)現(xiàn)象。當(dāng)過程存在自相關(guān)時，運(yùn)用傳統(tǒng)的控制圖對過程監(jiān)控就會發(fā)出大量的虛發(fā)警報，給生產(chǎn)帶來極大的損失。
　　本文對于存在自相關(guān)現(xiàn)象的過程進(jìn)行了研究。首先通過自相關(guān)函數(shù)和偏自相關(guān)函數(shù)判斷過程是否存在自相關(guān)，當(dāng)過程存在自相關(guān)時，就用相應(yīng)的時間序列模型

2、對質(zhì)量特性值進(jìn)行擬合，然后求得殘差。通過正態(tài)性檢驗(yàn)和自相關(guān)函數(shù)、偏自相關(guān)函數(shù)驗(yàn)證，得出殘差序列不存在自相關(guān)現(xiàn)象，這符合傳統(tǒng)控制圖制圖前提。然后以殘差為研究序列建立各種控制圖。
　　本文主要研究的是AR(1)時間序列模型，并在第4章對過程進(jìn)行了仿真模擬。在過程處于平穩(wěn)和非平穩(wěn)時，本文分別對相應(yīng)的AR(1)模型中不同的自相關(guān)系數(shù)做了仿真，并且做出了單值控制圖、殘差控制圖、殘差EWMA控制圖和殘差CUSUM控制圖。通過對比研究，最后得出