同步輻射共聚焦XAFS的實(shí)驗(yàn)方法及應(yīng)用.pdf

1、X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜(X-ray Absorption Fine Structure，XAFS)能夠提供待測元素的配位數(shù)、鍵長和價(jià)態(tài)結(jié)構(gòu)信息等，且不依賴樣品長程有序的晶體結(jié)構(gòu)、對元素有選擇性，是一種研究物質(zhì)結(jié)構(gòu)的重要手段，廣泛應(yīng)用于多學(xué)科領(lǐng)域，如能源、材料、環(huán)境、生物以及考古學(xué)等。
　　通常，在X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜學(xué)測量中，同步輻射的光斑大小在微米至毫米量級，樣品為均一的樣品。然而，在一些實(shí)際研究體系中，特別是文化遺產(chǎn)領(lǐng)域的研究中

2、，樣品珍貴、種類多樣、其空間分布不均一而且復(fù)雜，亟需發(fā)展空間分辨的X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)光譜，以便更準(zhǔn)確表征在空間維度上的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
　　本論文的主要工作是基于北京同步輻射光源，利用毛細(xì)管共聚焦方法，搭建了一套可移動(dòng)的、深度分辨的、且適用于常規(guī)XAFS線站的微區(qū)共聚焦XAFS實(shí)驗(yàn)裝置，用以拓展常規(guī)XAFS的實(shí)驗(yàn)方法。
　　本論文的另一個(gè)重要工作為:共聚焦XAFS裝置的應(yīng)用研究。選擇明代祭紅陶瓷釉層作為研究對象，應(yīng)用共聚焦XAFS