基因芯片CCD熒光檢測及圖像處理研究.pdf

1、基因芯片是上個世紀(jì)九十年代中期的產(chǎn)物，由于其巨大的應(yīng)用潛力此項(xiàng)技術(shù)越來越受到人們的重視，各個國家相繼投入大量的人力和物力進(jìn)行探索和研究。隨著基因芯片技術(shù)的發(fā)展，如何準(zhǔn)確、有效地檢測基因芯片也成為了人們關(guān)注的一個焦點(diǎn)。本文就是針對目前國內(nèi)基因芯片檢測的現(xiàn)狀展開了一些研究。 本文首先介紹的是基因芯片的國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀和應(yīng)用前景，對目前的基因芯片檢測方法做了綜述，針對目前的兩種主要的檢測方法激光共聚焦掃描法和基于CCD的熒光檢測進(jìn)行了

2、比較分析，指出了兩種檢測方法的優(yōu)缺點(diǎn)，同時也介紹了自行設(shè)計(jì)的CCD基因芯片檢測儀。并對在檢測過程中可能遇到的問題進(jìn)行了預(yù)判和初步的分析。 本文提出并采用半自動網(wǎng)格定位和自動網(wǎng)格定位相結(jié)合的方法對基因芯片樣點(diǎn)進(jìn)行初步地標(biāo)定、位置確定。對于少數(shù)有嚴(yán)重傾斜情況的基因芯片圖像采用了半自動網(wǎng)格定位，而對于正常的基因芯片圖像則采用了投影法自動網(wǎng)格定位，此種方法是針對基因芯片圖像的特點(diǎn)和投影法的優(yōu)勢而采用的。針對檢測中存在的噪聲影響，在對樣點(diǎn)