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文檔簡介
1、測試系統(tǒng)通常由被測對象、信號源、測量電路、控制器、人—機接口等五部分組成。任意波形發(fā)生器作為一種多功能的信號源,被廣泛應用于測試系統(tǒng)中。 現(xiàn)代自動測試系統(tǒng)主要基于VXI、PXI等測試總線,由模塊化的儀器/設備組成。其中,PXI總線是Compact PCl(CPCl)總線向儀器/測量領域的擴展。該總線系統(tǒng)具有可擴展性好、成本低、重量輕等諸多優(yōu)點。因此,本文設計了基于CPCl的任意波形發(fā)生器。 本文圍繞任意波形發(fā)生器的設計和
2、實現(xiàn)過程,進行了以下幾個方面的工作: 1.分析測控系統(tǒng)的發(fā)展趨勢,并根據(jù)用戶需求,進行系統(tǒng)總體方案設計; 2.鑒于系統(tǒng)對大容量波形存儲能力的要求,本文在分析DDS技術的基礎上對DDS技術進行改進。改進后的DDS技術使系統(tǒng)能在保證數(shù)據(jù)速率較高的條件下,選用低成本、大容量的存儲器用于電路實現(xiàn)。 3.基于系統(tǒng)通用性、擴展性、性價比的考慮,對系統(tǒng)進行了元件選型和硬件電路實現(xiàn)。 4.根據(jù)系統(tǒng)功能要求,編寫FPGA邏
3、輯。主要實現(xiàn)了能根據(jù)標識進行自動讀寫的SDRAM控制器、具有同步特性的任意分頻時鐘器、三線串行輸出接口(用于調(diào)幅模塊)等諸多功能。 5.編寫DSP的BIOS驅(qū)動和應用程序,實現(xiàn)對EMIF接口的配置和FPGA對DSP中斷的正確響應。 6.編寫上位機驅(qū)動和功能驗證程序。 7.系統(tǒng)調(diào)試、驗證。通過對系統(tǒng)進行系列的測試,驗證已實現(xiàn)的功能和性能水平,并結合實際,指出設計中存在的不足,并提出改進意見。 由測試結果表明
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