基于測試源劃分的系統(tǒng)芯片測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、超深亞微米技術(shù)的發(fā)展促成了系統(tǒng)芯片SoC的出現(xiàn),并由此將VLSI帶入了一個新的發(fā)展階段.由于SoC采用復(fù)用IP核為主的設(shè)計技術(shù),從而使SoC不論在開發(fā)周期,還是在系統(tǒng)功能、性能方面,均具有無可比擬的優(yōu)點.但隨著SoC集成IP核數(shù)目的增多,測試數(shù)據(jù)量和測試應(yīng)用時間急劇增加,若通過提高傳統(tǒng)的自動測試設(shè)備的存儲量和增加其傳輸帶寬的途徑來解決該難題,將使測試成本顯著上升.因此,壓縮測試數(shù)據(jù)成為減少測試時間和降低測試成本的一種有效途徑.

2、本文從國內(nèi)外幾種經(jīng)典的基于測試源劃分的測試數(shù)據(jù)壓縮方法入手,對各種方法的優(yōu)缺點進(jìn)行了分析,總結(jié)了每種方法各自的適用范圍,并在此基礎(chǔ)上提出了以下兩種新穎的編碼方案: 第一種,狀態(tài)翻轉(zhuǎn)連續(xù)長度碼.其基本思想是對測試數(shù)據(jù)流中連續(xù)的"0"和"1"的長度以相同的方法編碼,不像Golomb碼和FDR碼僅僅限制對連續(xù)"0"的長度進(jìn)行編碼.另外,所建議的方案直接編碼一個預(yù)先計算的測試集,也不需要為了獲得最大的壓縮,重新排列這個測試集,而構(gòu)造那個

3、優(yōu)化的差分序列,并使用CSR進(jìn)行解壓.這種方案僅僅需要一個有限狀態(tài)機(jī)作為一個解壓器. 第二種,數(shù)據(jù)塊前向相容標(biāo)記碼.其基本思想是先將測試數(shù)據(jù)流分成等長的數(shù)據(jù)塊,再將與參考數(shù)據(jù)塊相容的數(shù)據(jù)塊用"1"標(biāo)記來替換.在該方案中,標(biāo)記"1"是動態(tài)的,它代表除參考數(shù)據(jù)塊以外所有與之相容的數(shù)據(jù)塊,而字典編碼中的索引都是靜態(tài)的,每個索引只能代表一個字符塊.同時,標(biāo)記僅為一位,故測試集得以有效壓縮.該方案的解壓體系結(jié)構(gòu)只需要一個有限狀態(tài)機(jī)和一個與