多掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的不斷發(fā)展，數(shù)字電路的集成度越來(lái)越高，系統(tǒng)芯片（System-on-a-Chip，SoC）上集成的知識(shí)產(chǎn)權(quán)核（Intellectual Property，IP）越來(lái)越多，功能也越來(lái)越復(fù)雜。在測(cè)試過(guò)程中，為了保證較高的測(cè)試故障覆蓋率，不斷增加的芯片復(fù)雜度使測(cè)試數(shù)據(jù)量大幅增加，由此增加了對(duì)自動(dòng)測(cè)試儀（Automatic Test Equipment，ATE）存儲(chǔ)容量和帶寬的要求，并且會(huì)導(dǎo)致測(cè)試應(yīng)用時(shí)間過(guò)長(zhǎng)、測(cè)試功耗過(guò)大。因此

2、，減小測(cè)試數(shù)據(jù)量是 SoC測(cè)試的一個(gè)研究熱點(diǎn)，在這些研究中，測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮是解決測(cè)試數(shù)據(jù)量過(guò)大和測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)的有效方法之一。本文主要針對(duì)SoC測(cè)試激勵(lì)數(shù)據(jù)壓縮進(jìn)行了研究，主要?jiǎng)?chuàng)新性工作有：
　　（1）提出一種基于鏡像對(duì)稱參考切片的多掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法。該方法采用兩個(gè)相互鏡像對(duì)稱的參考切片與掃描切片做相容性比較，相比單參考切片提高了相容概率。若掃描切片與參考切片相容，只需要很少的幾位編碼就可以表示這個(gè)掃描切片，并且可以并行載入多掃

3、描鏈；若不相容，參考切片被該掃描切片替換。提出一種貪婪相容策略，用來(lái)處理掃描切片與參考切片同時(shí)滿足多種相容關(guān)系時(shí)的選取問(wèn)題。根據(jù)Huffman編碼原理確定不同相容情況的編碼碼字，進(jìn)一步提高了測(cè)試數(shù)據(jù)的壓縮率。
　　（2）提出了一種基于變換編碼的測(cè)試數(shù)據(jù)廣播壓縮方法。該方法將變換編碼應(yīng)用到廣播掃描壓縮方法中，通過(guò)hadamard矩陣變換將原測(cè)試集拆分成主分量和殘差分量。采用列最大匹配策略對(duì)主分量進(jìn)行選取，使得更多的殘差分量滿足廣播的