集成電路測試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法研究.pdf

1、隨著SOC(System-on-a-chip)技術不斷發(fā)展，單個芯片上集成的IP核越來越多，芯片的性能和復雜度不斷增加，使得SOC測試面臨著越來越嚴峻的挑戰(zhàn)。雖然通過提高自動測試儀(ATE)的性能，在一定程度上可以緩解這些問題，但是ATE設備的價格相當昂貴，使得測試成本往往不可接受。如何有效地降低測試成本，特別是測試數(shù)據(jù)的存儲開銷，已經(jīng)成為學術界和工業(yè)界研究的一個熱點問題。本文圍繞SOC測試數(shù)據(jù)壓縮進行了研究，詳細介紹了SOC測試相關理

2、論知識和幾種常見的測試數(shù)據(jù)壓縮技術，并對已有的測試數(shù)據(jù)壓縮技術進行了改進，提出了兩種新的方案，其中主要工作有:
　　 (1)提出了一種基于一位標識的測試向量混合編碼壓縮方法。將混合編碼的測試數(shù)據(jù)劃分成若干個數(shù)據(jù)塊。每個數(shù)據(jù)塊又包含兩個子數(shù)據(jù)塊，第一個子數(shù)據(jù)塊采用雙前綴單游程編碼，第二個子數(shù)據(jù)塊采用一位標識法。解壓時，以第一個子數(shù)據(jù)塊的長度來計算出第二個子數(shù)據(jù)塊的長度。這樣，減少了一部分需要編碼的數(shù)據(jù)。實驗結果表明:該方法平均壓縮

3、率可達到66.70％。為了獲得更好的壓縮效果，依據(jù)向量含無關位X比率的大小，對其進行了不同的處理:將整個測試集分成兩組，無關位X比率較大的一組向量采用混合編碼，無關位X比率較小的一組向量采用雙前綴雙游程編碼。實驗結果表明:該方法平均壓縮率提高了2.04％。
　　 (2)提出了一種基于測試向量重排序的差分編碼壓縮方法。依據(jù)向量之間的相容性，從兩個方向對測試向量進行排序，再進行差分，最后使用FDR編碼進行壓縮，壓縮效果較單方向排序方