加權內建自測試(BIST)設計中的多目標優(yōu)化技術研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著數字系統(tǒng)的集成度和工藝復雜度的日益提高,數字系統(tǒng)內的器件測試變得越來越困難。由于內建自測試(Built-In Self-Test, BIST)能在芯片內部完成自測試,使得BIST技術在測試方面得到了廣泛的應用。但BIST在測試時也存在測試序列過長和測試故障覆蓋率不高等問題。因此,本課題重點研究一種既能保障測試故障覆蓋率,又能縮短測試序列長度的測試方案。
　　本課題主要研究內容如下:在研究BIST多目標優(yōu)化問題的基礎上,考慮編碼

2、方式和適應度分配機制,引入帶精英策略的非支配排序遺傳算法(Nondom-inated Sorting Genetic Algorithm II, NSGA-II)。采用NSGA-II算法得到細胞自動機(Cellular Automata, CA)的規(guī)則集,獲取CA結構,同時,通過構造最大海明距離和預設笛卡爾距離來獲取預確定距離測試序列,使每一個測試序列都能夠檢測到更多不同的故障。保障了測試的故障覆蓋率和測試序列長度間的平衡,實現BIST

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