鐵電薄膜存儲器存儲特性測試儀的研制.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、鐵電薄膜存儲器具有開關速度快,工作電壓低,存儲密度高,工作溫度范圍 大,耐輻射和非揮發(fā)性等優(yōu)點.因此對鐵電薄膜存儲器(FRAM)的開發(fā)和研究引起了世界范圍的關注鐵電薄膜具有記憶特性是國為鐵電體具有電滯回線,因此,直接測試鐵電薄膜雙向極化后剩余極化的差別,是其它性能測試不能替代的.作者研究設計了鐵電薄膜存儲器存儲特性測試儀,用于鐵電薄膜的主要性能指標的檢測.實際應用表明,該儀有夠對鐵電薄膜存儲器進行各種"讀/寫"操作.利用它對Au/BI

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