基于可配置二維LFSR的邏輯內(nèi)建自測試方法研究.pdf

1、分類號密級UDCUDC編號桂林電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文碩士學(xué)位論文題目:題目:基于可配置二維LFSR的邏輯內(nèi)建自測試方法研究基于可配置二維LFSR的邏輯內(nèi)建自測試方法研究（英文）（英文）ConfigurableTwoDimensionalLinearFeedbackShiftRegisterBasedonLogicBuiltInSelfTestResearch研究生姓名:何艷梅研究生姓名:何艷梅指導(dǎo)教師姓名、職務(wù):雷加教授指導(dǎo)教師姓名、

2、職務(wù):雷加教授申請學(xué)科門類:工學(xué)碩士申請學(xué)科門類:工學(xué)碩士學(xué)科、專業(yè):檢測技術(shù)與自動化裝置學(xué)科、專業(yè):檢測技術(shù)與自動化裝置提交論文日期:2010年4月提交論文日期:2010年4月論文答辯日期:2010年6月論文答辯日期:2010年6月年月日摘要I摘要隨著集成電路設(shè)計和制造水平的不斷提高，測試面臨著越來越多的困難，可測性設(shè)計(DFT)成為解決測試問題的主要手段。其中，內(nèi)建自測試（BIST）能在芯片內(nèi)部完成自測試，使產(chǎn)品的設(shè)計周期縮短，是一

3、種有效的DFT方案。目前，對BIST研究主要集中在測試生成方法上，研究目標(biāo)在于減小硬件開銷，提高故障覆蓋率，縮短測試時間等。二維線性移位寄存器作為測試生成器，無需存儲測試矢量，通過可配置的方案，能生成期望的測試矢量，這些矢量包括：隨機(jī)矢量(用于檢測隨機(jī)可檢測故障)和確定性矢量(用于檢測抗隨機(jī)性故障）。本文研究了基于二維線性移位寄存器的測試生成技術(shù)，并結(jié)合確定性和隨機(jī)性測試生成技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，設(shè)計了基于二維線性移位寄存器(2DLFSR)的BI

4、ST系統(tǒng)。該設(shè)計包含兩大部分：2DLFSR結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計和基于2DLFSR的BIST系統(tǒng)設(shè)計。對于2DLFSR結(jié)構(gòu)，提出了基于矩陣的優(yōu)化設(shè)計方法，將期望的測試集劃分為互不相容的相容輸入集，再通過搜索最大相關(guān)項來確定可配置2DLFSR的最優(yōu)化結(jié)構(gòu)以最小硬件開銷生成預(yù)先計算的矢量。對于BIST系統(tǒng)的設(shè)計，選用了按時鐘測試的測試方式，以2DLFSR作為BIST的矢量生成器(TPG)以16位的多輸入特征分析器將測試響應(yīng)數(shù)據(jù)壓縮為特征，使數(shù)字系統(tǒng)的