基于配置比特流的FPGA容錯技術(shù)的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、FPGA通常攜帶大量算術(shù)邏輯資源，具有設(shè)計周期短、開發(fā)成本低和可重配置等特性，因而在空間和地面數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計中得到廣泛應(yīng)用。然而，SRAM型FPGA對輻射粒子非常敏感，常會受其影響而造成FPGA設(shè)備故障，降低了數(shù)字系統(tǒng)的可靠性。因此，本文對FPGA容錯技術(shù)進行了研究，從而處理由發(fā)生率較高的單粒子翻轉(zhuǎn)SEU和多位翻轉(zhuǎn)MBU造成的FPGA芯片軟錯誤，提高數(shù)字系統(tǒng)的可靠性。
　　 通過分析基于FPGA的數(shù)字系統(tǒng)實際應(yīng)用背景，并在深入剖析

2、FPGA內(nèi)部結(jié)構(gòu)和故障類型的基礎(chǔ)上，本文對常用FPGA容錯方法進行了總結(jié)，進而將高可靠性的基于配置比特流的容錯方法做為研究重點。針對該類方法中外部刷新設(shè)計資源開銷大、內(nèi)部Frame_ECC刷新設(shè)計無法處理MBU問題的缺陷，提出了基于回讀驗證的內(nèi)部刷新方案，即利用回讀驗證技術(shù)檢測、定位翻轉(zhuǎn)故障，然后通過內(nèi)部刷新修復(fù)故障。
　　 基于上述容錯方案，本文設(shè)計了一個內(nèi)部刷新容錯系統(tǒng)，通過創(chuàng)建硬件平臺并編寫容錯功能程序，成功的將該容錯系統(tǒng)

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