基于動態(tài)重構(gòu)技術(shù)的FPGA電路容錯性能評估系統(tǒng)設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、近年來SRAM型FPGA的單粒子效應(yīng)已經(jīng)成為引起空間電子儀器功能失效的主要原因之一,針對此類故障研究者們提出了三模冗余設(shè)計、兩模塊冗余設(shè)計等加固方法。各類加固方法一般都是以加大芯片規(guī)?；驙奚俣葹榇鷥r換取可靠性的提升,因此需要進行定量分析和可靠的評估。但是單粒子輻照實驗價格昂貴、時間受限,要完整得到系統(tǒng)容錯性能就必須依賴充足覆蓋率的測試樣本,于是基于故障注入的設(shè)計驗證方法和自動化的測試系統(tǒng)越來越受到關(guān)注。
　　本文針對以上問題開展

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