物體表面多反射特性對(duì)三維測(cè)量結(jié)果影響分析及其改進(jìn)方法.pdf

1、隨著結(jié)構(gòu)光測(cè)量技術(shù)的日益成熟，其應(yīng)用范圍也愈加廣泛，從原先的工業(yè)反求，工業(yè)精度檢測(cè)等領(lǐng)域，逐漸擴(kuò)展到文物數(shù)字化、醫(yī)學(xué)、工藝品設(shè)計(jì)制造、建筑設(shè)計(jì)等等行業(yè)。在這些應(yīng)用過(guò)程中，對(duì)測(cè)量提出了更高的要求，要求能夠完整真實(shí)的獲得物體表面的形貌特征，同時(shí)不受色彩紋理和物體材質(zhì)的影響。
　　在使用三維掃描設(shè)備進(jìn)行測(cè)量時(shí)，獲取的物體三維數(shù)據(jù)受到表面紋理、散射、互反射等現(xiàn)象影響，發(fā)生錯(cuò)誤。本文對(duì)面結(jié)構(gòu)光測(cè)量過(guò)程中的光照影響進(jìn)行了詳細(xì)的分析，對(duì)比原有模

2、型，提出新的模型表達(dá)式，找出了數(shù)據(jù)錯(cuò)誤產(chǎn)生的原因。
　　為了進(jìn)一步探究解決方法，本文對(duì)于現(xiàn)有的幾種去除面結(jié)構(gòu)光測(cè)量中多次分量影響的方法進(jìn)行了深入分析，并一一設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)?zāi)M驗(yàn)證，證實(shí)了這幾種方法不能達(dá)到完全去除多次分量的目的。
　　受到現(xiàn)有方法的啟發(fā)，本文提出了對(duì)于不同種類的多次分量，采用不同頻率的投影圖樣進(jìn)行抑制，同時(shí)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)對(duì)其進(jìn)行了驗(yàn)證。在此基礎(chǔ)上，本文借助邏輯運(yùn)算等方法，生成了針對(duì)不同種類間接分量的高、低頻投影圖樣。為了