基于偏微分方程的電子散斑干涉信息提取方法研究.pdf

1、電子散斑干涉測(cè)量(Electronic Speckle Pattern Interferometery，簡(jiǎn)稱(chēng)ESPI)技術(shù)廣泛應(yīng)用于光學(xué)粗糙表面的變形測(cè)量和無(wú)損檢測(cè)等方面，通過(guò)求取電子散斑干涉條紋圖的相位信息可以得到物體的位移或者變形量。本文主要研究ESPI條紋圖相位信息提取中的兩項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)，即條紋圖的骨架線(xiàn)提取方法及相位插值方法，并通過(guò)對(duì)模擬條紋圖和實(shí)驗(yàn)條紋圖進(jìn)行分析驗(yàn)證算法的性能，主要研究工作概述如下：
　　提出了基于偏微分方

2、程和梯度矢量場(chǎng)散度分析的骨架線(xiàn)提取方法。該方法將條紋的方向特性應(yīng)用于各向異性偏微分方程模型中，用此模型對(duì)圖像的梯度矢量場(chǎng)進(jìn)行調(diào)整，更好地保留了原始圖像的拓?fù)湫再|(zhì)。通過(guò)分析調(diào)整后梯度矢量場(chǎng)的散度特性，判斷骨架點(diǎn)的位置，從而提取出圖像的骨架線(xiàn)。實(shí)驗(yàn)表明該方法可應(yīng)用于低對(duì)比度、不同閉合狀態(tài)、不同疏密條紋分布的干涉圖骨架線(xiàn)提取中。
　　通過(guò)研究ESPI條紋圖的相位插值，提出了基于偏微分方程的相位插值方法。該方法將骨架線(xiàn)上的相位值當(dāng)作能量來(lái)