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1、聲明:本講義內(nèi)容用于內(nèi)部交流和學(xué)習(xí),請注意保護(hù)作者的版權(quán)集成電路測試方法研究集成電路測試方法研究華中科技大學(xué)IC設(shè)計中心陳新武聲明:本講義內(nèi)容用于內(nèi)部交流和學(xué)習(xí),請注意保護(hù)作者的版權(quán)II4.5本章小結(jié)????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(42)5集成電路的低功耗集成電路的低功耗DFT
2、DFT方法方法5.1測試模式下功耗比較高的原因????????????????????????????????????????????????????????????(43)5.2基于掃描設(shè)計的低功耗DFT方法???????????????????????????????????????????????????????(44)5.3基于非掃描設(shè)計的低功耗DFT方法?????????????????????????????????????
3、??????????????(47)5.4本章小結(jié)????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(52)6測試調(diào)度問題測試調(diào)度問題6.1為測試調(diào)度問題建立數(shù)學(xué)模型????????????????????????????????????????????????????????????(53)6.
4、2解析測試基準(zhǔn)電路ITC’02????????????????????????????????????????????????????????????????????(56)6.3測試調(diào)度算法????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(61)6.4實驗數(shù)據(jù)的構(gòu)造??????????????????????
5、??????????????????????????????????????????????????????????????(64)6.5實驗結(jié)果與分析????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(65)6.6本章小結(jié)?????????????????????????????????????????????????
6、???????????????????????????????????????????????(66)7總結(jié)與展望總結(jié)與展望7.1總結(jié)???????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(68)7.2本文的創(chuàng)新點?????????????????????????????????????
7、??????????????????????????????????????????????????(69)7.3展望???????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????????(69)參考文獻(xiàn)參考文獻(xiàn)??????????????????????????????????????????????
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