集成電路產(chǎn)品測(cè)試管理系統(tǒng).pdf

1、本論文結(jié)合企業(yè)集成、高效、先進(jìn)、實(shí)用企業(yè)管理需求,完成了產(chǎn)品測(cè)試管理系統(tǒng)的開發(fā)以及相關(guān)技術(shù)的應(yīng)用研究,對(duì)于以后進(jìn)一步研究和開發(fā)適用于具體行業(yè)規(guī)范集成的產(chǎn)品管理系統(tǒng),推廣和擴(kuò)大產(chǎn)品管理系統(tǒng)的應(yīng)用范圍有較大借鑒意義。
　　 本論文在半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)生產(chǎn)管理系統(tǒng)的模塊結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上完成了產(chǎn)品測(cè)試管理系統(tǒng)中生產(chǎn)管理系統(tǒng)的需求分析,其中包括測(cè)試流程、功能結(jié)構(gòu)以及數(shù)據(jù)流程的分析和描述;完成了產(chǎn)品測(cè)試管理系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫(kù)的概念設(shè)計(jì)、邏輯設(shè)計(jì)和物理設(shè)計(jì);

2、論文還針對(duì)產(chǎn)品測(cè)試管理系統(tǒng)的特點(diǎn),提出并解決了優(yōu)化查詢、數(shù)據(jù)庫(kù)的并發(fā)控制等問(wèn)題,提高了系統(tǒng)的性能。
　　 論文在完成了產(chǎn)品測(cè)試管理系統(tǒng)分析設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)的基礎(chǔ)上,著重研究測(cè)試工序的參數(shù)選擇問(wèn)題。針對(duì)存在的測(cè)試參數(shù)繁多、經(jīng)驗(yàn)選擇的不確定性等問(wèn)題,運(yùn)用回歸分析法和數(shù)據(jù)挖掘手法,經(jīng)過(guò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的預(yù)處理、連續(xù)屬性的離散化,最終運(yùn)用正交化和盒子圖方法求出屬性的核值。該方法已付諸實(shí)施,簡(jiǎn)化了測(cè)試平臺(tái)移植的過(guò)程,提高了測(cè)試效率。
　　 本