基于FPGA的通用FASH存儲器測試驗證系統(tǒng).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、芯片的驗證測試是芯片開發(fā)流程中的重要環(huán)節(jié)，驗證部分的經(jīng)費在整個開發(fā)中的比例也逐年增大。隨著集成電路近年來工藝的發(fā)展，使得存儲器在設(shè)計和制作過程中出現(xiàn)了越來越多的問題，因此芯片驗證越來越受到重視，關(guān)系到整個設(shè)計的可行性。本文針對Flash芯片的驗證開發(fā)了一款基于FPGA的通用測試平臺，主要內(nèi)容有:
　　1、討論了開發(fā)本款Flash存儲器驗證系統(tǒng)的可行性，分析了芯片驗證的的國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀。
　　2、研究了Flash存儲器測試的基

2、本原理，包括芯片故障模型和芯片測試算法，并介紹了本文中待測的6MbNORFLASH存儲器芯片的結(jié)構(gòu)，明確了系統(tǒng)的驗證目的。
　　3、詳細介紹了本文中設(shè)計的基于FPGA的通用Flash存儲驗證系統(tǒng)的硬件電路設(shè)計，著重介紹了設(shè)計思路和注意事項。在Cadence和AltiumDesign10中完成了各個模塊的設(shè)計，主要包括FPGA外設(shè)電路設(shè)計、電源電路設(shè)計和上層接口板電路設(shè)計。
　　4、最后，用調(diào)試好的驗證系統(tǒng)硬件電路在實驗室對6

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