計算機硬盤和內(nèi)存存儲器的安全銷毀與資源化處理.pdf

1、計算機給人類的生活帶來了極大方便、快捷、舒適的同時,隨著它的報廢,也產(chǎn)生大量的電子垃圾。計算機中硬盤和內(nèi)存存儲器作為一種特殊的電子垃圾,具有信息安全和可資源化的雙重特性,對其安全處理和資源化具有特殊的要求。為此,本論文以計算機硬盤(磁存儲介質(zhì))和內(nèi)存存儲器(半導體型存儲介質(zhì))為研究對象,研究了廢棄電子設備存儲介質(zhì)的安全銷毀與資源化處理,提出廢棄電子設備存儲介質(zhì)安全銷毀和資源化方法。對于磁存儲介質(zhì)硬盤采用靜態(tài)磁場對其進行消磁,使用磁力顯微

2、鏡觀測盤片磁疇結(jié)構(gòu),可以發(fā)現(xiàn)殘余信息被徹底清除。消磁過程中應保持盤片與磁場方向平行,在3500Gs磁場強度下進行6-10s的消磁處理能夠達到較好的消磁效果。硬盤鋁合金在整個硬盤中的質(zhì)量分數(shù)高達70％以上,具有很高的回收價值。通過熱除漆方法進行除漆,在400℃下灼燒24min,能夠使硬盤鋁合金成為可回收的二次鋁合金。提出了針對廢舊硬盤的綜合處理工藝,它提供了一個廢舊硬盤整體資源化的研究路徑。對于半導體型存儲介質(zhì)內(nèi)存存儲器采用破碎法進行安全

3、銷毀,內(nèi)存破碎的粒度分布可采用R-R分布模型進行模擬,其一次方程和二次方程擬合的相關系數(shù)分別為0.9624和0.9986。內(nèi)存破碎的動力學規(guī)律可采用一級反應動力學模型進行模擬,得到參數(shù) k相關系數(shù) R2=0.94377。研究結(jié)果表明,采用兩級破碎的方法對以內(nèi)存為主要實驗材料的半導體存儲介質(zhì)的破碎,破碎4min后有超過19%的顆?？梢员黄扑橹亮?.1mm以下,且顆粒中的作為主要信息載體的硅含量比其他粒級高出50%,達到相應的國家技術要求

4、。采用R-R粒度分布模型、一級粉碎動力學模型和基于面積學說的能耗理論,對破碎過程模擬精度高,有一定的指導意義。
　　本文分別對以上三者中兩兩組合得到的二元物料進行高壓靜電分選實驗,隨后根據(jù)得到的分選條件設計三元物料的二級及三級高壓靜電分選。在二級分選實驗中,第一級分選對絕緣體顆粒的分選效果很好,但導體顆粒的分離率較低。通過三級電選,較好地解決了上述問題,使三元物料都達到較高的分離率,導體、半導體、絕緣體顆粒分離率依次達到82.5%