電子束蒸發(fā)原位退火生長MgB-,2-超導(dǎo)薄膜及其物性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、MgB2良好的超導(dǎo)性能使其在超導(dǎo)電子應(yīng)用方面有著廣闊的前景,高質(zhì)量薄膜是超導(dǎo)器件的前提,原位退火制備薄膜的方法具有適合多層膜器件的優(yōu)勢,所以研究用原位退火方法制備高質(zhì)量MgB2薄膜對這個材料在超導(dǎo)電子學(xué)中的應(yīng)用至關(guān)重要。 本文利用電子束蒸發(fā)原位退火方法在Al2O3和Si襯底上制備MgB2超導(dǎo)薄膜,背景真空為1×10-7mbar,先驅(qū)膜為周期結(jié)構(gòu)的[B(100A)+Mg(151A)]N多層膜,N取決于所需膜厚,沉積好的先驅(qū)膜在15

2、0 Pa高純氬氣的保護氣氛下原位退火,熱處理溫度選?。?50℃,600℃,625℃,650℃,675℃,700℃,725℃,750℃,800℃,熱處理時間為:10分鐘,20分鐘,30分鐘,1小時,2小時,4小時。研究了MgB2超導(dǎo)薄膜的制備工藝和相關(guān)的超導(dǎo)特性,主要工作如下: 1.在熱處理溫度為630℃保持25分鐘的情況下,成功在Al2O3襯底上制備出零電阻臨界溫度為30.3K,超導(dǎo)轉(zhuǎn)變寬度為0.1K的MgB2均勻超導(dǎo)薄膜。0.

3、1K的轉(zhuǎn)變寬度是迄今為止用原位退火方法制備的MgB2薄膜中最窄的,說明獲得了相純、均勻的超導(dǎo)膜。 2.在熱處理溫度為800℃保持30分鐘的情況下,成功在無緩沖層Si襯底上制備出零電阻臨界溫度為32.8K,臨界電流密度為3.3x105A/cm2的MgB2超導(dǎo)薄膜。這是迄今為止無緩沖層或籽層Si襯底上用原位退火方法獲得的MgB2薄膜中零電阻臨界溫度最高的。 3.進一步優(yōu)化了電子束蒸發(fā)制備MgB2超導(dǎo)薄膜工藝:1、設(shè)計先驅(qū)膜頂

4、層為100A的B層,熱處理時B層起Mg蒸汽保護帽的作用,有效阻止Mg揮發(fā)。2、降低O2污染:我們利用Mg對O2敏感起吸收劑的作用,在沉積先驅(qū)膜前及進行熱處理前,分別蒸鍍100A鎂。實驗結(jié)果表明,預(yù)蒸鎂的方法能有效地提高MgB2超導(dǎo)薄膜零電阻溫度3、阻礙Mg向Si襯底擴散:我們在Si襯底上制備MgB2超導(dǎo)薄膜時設(shè)計先驅(qū)膜底層為100A的B層,讓B層起“緩沖層”作用阻礙Mg向Si襯底擴散,實驗結(jié)果表明,雖然100A的B層不能完全阻止Mg與S

5、i之間的擴散,但“B緩沖層”的方法能有效地提高Si襯底上MgB2超導(dǎo)薄膜零電阻溫度。 4.研究了不同熱處理溫度和熱處理時間對MgB2薄膜性能的影響,結(jié)果表明MgB2可以在550~800℃溫度范圍成相。熱處理時間依賴于熱處理溫度,在625℃~800℃溫度區(qū)間,20~30分鐘退火時間為最佳。當(dāng)熱處理溫度低于625℃時,熱處理時間需增加,例如當(dāng)熱處理時間從30分鐘增加到2小時,550℃退火的樣品零電阻臨界溫度提高了11.7K。但是過

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