數(shù)字電路冗余故障檢測方法研究及實驗分析.pdf

1、隨著集成電路設計與加工技術的飛速發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的測試成為一個越來越困難的問題，測試和可測試性設計的理論與技術已經(jīng)成為VLSI領域中的一個重要研究方向，在理論和實踐方面都有十分突出的價值。 目前工業(yè)界普遍采用電壓測試和穩(wěn)態(tài)電流測試方法對數(shù)字電路進行測試，瞬態(tài)電流測試方法作為傳統(tǒng)測試方法的補充手段，被證明能夠檢測傳統(tǒng)測試方法無法檢測的固定型故障——即冗余故障，這對于數(shù)字電路品質的提高具有積極的意義。 本文首先提出一種

2、基于瞬態(tài)電流測試方法的冗余故障測試產(chǎn)生算法，該算法利用扇出重匯聚結構當中從扇出點到重匯聚點的不同路徑的延時差，在重匯聚點形成冒險，以激活故障并將故障效應進行傳播。將該算法應用于ISCAS’85 benchmark電路，模擬結果表明，在理想條件下該算法能夠檢測所有冗余故障。 接著，針對C432電路中的若干冗余故障，用該方法所產(chǎn)生的測試向量進行了Spice仿真。仿真結果表明，用該方法所產(chǎn)生的測試向量對能夠使無故障電路和故障電路之間瞬