ATE測試平臺通用性與故障診斷的研究與實現(xiàn).pdf

1、本文是結(jié)合課題“ATE測試平臺”中關(guān)于自動測試系統(tǒng)通用性與故障診斷推理的研究,并根據(jù)作者在該課題中所承擔(dān)的任務(wù)撰寫完成。隨著測試技術(shù)的發(fā)展和測試成本的提高,實現(xiàn)自動測試系統(tǒng)軟、硬件通用性以及如何將測試與故障診斷推理有機(jī)結(jié)合是當(dāng)前研究的熱點?！癆TE測試平臺”提供一個開發(fā)自動測試系統(tǒng)的平臺,目的是使利用該平臺提供的軟、硬件架構(gòu)開發(fā)出的測試系統(tǒng)滿足通用性的要求,節(jié)約測試成本、有效利用測試資源。相控陣?yán)走_(dá)測試系統(tǒng)就是在該平臺下開發(fā)的具體實例。

2、它實現(xiàn)了雷達(dá)的參數(shù)測試和故障診斷推理,同時滿足對于通用性和診斷推理的要求。本文重點討論了平臺通用性和雷達(dá)測試與故障診斷推理的有關(guān)內(nèi)容,主要包括:1、通用性的研究和實現(xiàn)。首先研究了自動測試系統(tǒng)的幾個重要方面如總線、軟件標(biāo)準(zhǔn)等,并根據(jù)實際需求得出ATE測試平臺實現(xiàn)通用性的具體方法——采用模塊化、層次化設(shè)計和IVI設(shè)計思想,對平臺的結(jié)構(gòu)進(jìn)行合理劃分建立了分層邏輯結(jié)構(gòu),儀器、總線、TPS、驅(qū)動等分別屬于各自的獨立邏輯層,并在儀器驅(qū)動庫之上創(chuàng)建了

3、類驅(qū)動庫,運用類似IVI的技術(shù)解決儀器可互換和TPS可移植的實現(xiàn)。特別重點介紹了平臺的軟、硬件架構(gòu)、開關(guān)矩陣設(shè)計;2、相控陣?yán)走_(dá)測試系統(tǒng)的實現(xiàn)。作為平臺開發(fā)的一個實例,研究了雷達(dá)參數(shù)測試策略,實現(xiàn)了測試流程控制、通信流程控制、數(shù)據(jù)庫設(shè)計等。在雷達(dá)的故障診斷推理實現(xiàn)中,首先對故障診斷的相關(guān)理論和方法進(jìn)行了研究,之后重點介紹了如何將雷達(dá)參數(shù)測試與故障診斷推理有機(jī)結(jié)合,以及如何合理利用內(nèi)建自測試信息等。在運用基于知識的診斷推理中,獨創(chuàng)使用表達(dá)