嵌入式SRAM簇內建自測試結構及自動生成研究.pdf

1、分類號密級UDC編號桂林電子科技大學碩士學位論文題目嵌入式嵌入式SRAMSRAM簇內建自測試內建自測試結構結構及自動生自動生成研究研究（英文）（英文）StudyontheAutStudyontheAutomaticGenerationomaticGenerationoftheoftheBISBISTArchitecturefESRAMArchitecturefESRAMClustersClusters研究生姓名:湯敏指導教師姓名、職務指

2、導教師姓名、職務:顏學龍顏學龍副教授副教授申請學位門類:工學碩士工學碩士學科、?？啤I(yè):測試計量技術及儀器測試計量技術及儀器提交論文日期:20062006年4月論文答辯日期:20062006年6月年月日摘要摘要隨著SOC（SystemOnaChip，片上系統(tǒng)）技術的迅速發(fā)展，越來越多的ESRAM（EmbeddedSRAM，嵌入式靜態(tài)隨機存儲器）內核被集成到芯片中。這些ESRAM內核的端口數量、地址寬度、數據寬度、工作頻率以及讀寫控制方

3、式往往都不相同，并且它們通常分散在芯片的各個位置。在對分散的ESRAM簇進行測試時，每個ESRAM內核都專用BIST（BuiltInSelfTest，內建自測試）結構的測試方案存在硬件開銷大、測試調度復雜等缺點。March測試算法由于其算法復雜度低、故障覆蓋率高而成為當前存儲器測試的常用算法。本文在詳細研究多端口ESRAM故障模型、March測試算法和ESRAM簇不同組合的基礎上，討論了能夠提高測試效率的測試調度方案，設計了一種共享控制

4、器的ESRAM簇BIST結構。這種BIST結構能夠對上述不同類型的ESRAM簇進行有效的測試和診斷。實驗數據表明該BIST結構與專用BIST結構相比硬件開銷明顯降低。根據這種ESRAM簇BIST結構，設計了一個ESRAM簇BIST自動生成系統(tǒng)。該自動生成系統(tǒng)可以根據用戶定義的ESRAM簇和March測試算法，自動編譯生成其所需的BIST項目。驗證結果表明：這種ESRAM簇BIST自動生成系統(tǒng)基本達到實用化的程度，對國內存儲器DFT（De