基于脈沖波形分析的帶電粒子鑒別方法研究.pdf

1、帶電粒子探測技術在輻射防護、環(huán)境監(jiān)測、粒子事件預報以及核素分析等領域應用普遍。由于種類多樣，在對帶電粒子進行探測時必須進行粒子鑒別，也就是要測出其原子序數Z和質量數A。目前，人們已經提出了許多種鑒別方法，而脈沖波形分析法（PSA）由于包含豐富的粒子信息，成為帶電粒子鑒別方法的研究重點。
　　本文基于實驗事實，將頻域分析引入帶電粒子鑒別領域，提出了一種頻率比值分析法（FRA）。論文構建了一個由全耗盡型硅探測器、前置放大器（CANBE

2、RRA Model2003BT）、數據采集卡（CAEN V1729A）、高壓電源（ORTEC556）、快放大器（ORTEC9302）組成的帶電粒子探測平臺。實驗中完成了對α粒子和質子的測量。其中，α粒子由鍍鈾銅片衰變產生，而質子則由252Cf衰變產生的中子轟擊聚乙烯膜產生。在得到實驗數據后，又完成了無效數據剔除、基線消除、脈沖截取、歸一化以及能量刻度等數據處理過程，再經過傅里葉變換后得到質子和α粒子的頻譜特性曲線。分析兩種粒子的頻域特性