基于掃描鏈阻塞技術(shù)的低費(fèi)用測試方法研究.pdf

1、隨著集成電路在日常生活中的廣泛應(yīng)用，集成電路測試作為保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)，越來越受到人們的重視。然而隨著集成電路規(guī)模增大，集成度不斷提高，測試變得非常困難，測試成本越來越高。因此，降低測試成本，并且實現(xiàn)對集成電路低功耗測試將變得尤為重要。多掃描子鏈測試技術(shù)很早就被提出來并廣泛應(yīng)用，其中掃描鏈阻塞技術(shù)是目前比較流行的技術(shù)之一。掃描鏈輪流捕獲技術(shù)是在掃描鏈阻塞技術(shù)的基礎(chǔ)上，增加了故障被檢測的機(jī)會，進(jìn)一步降低了測試功耗。
　　 掃描

2、鏈阻塞技術(shù)有效地降低了測試功耗，但是測試應(yīng)用時間較長，從而導(dǎo)致測試費(fèi)用增加。為了解決這一問題，本文提出一種基于掃描鏈阻塞技術(shù)的低費(fèi)用方法。該方法利用了測試向量之間的相容性，降低測試應(yīng)用時間。其實現(xiàn)方法是：將被測電路中需要施加的測試向量，進(jìn)行相容性計算。通過對前一個測試向量的后半段和后一個測試向量的前半段的相容位進(jìn)行壓縮，以達(dá)到掃入掃描鏈數(shù)據(jù)量的減少。實驗結(jié)果表明該方法有效地減少測試應(yīng)用時間，并且不需要額外的硬件代價。
　　 其次

3、，本文提出一種基于掃描鏈輪流捕獲技術(shù)的掃描單元重排序方法。該方法通過將捕獲同一故障的不同掃描單元重新排列到不同的掃描子鏈中，以增大故障捕獲的概率。在該方法中，我們首先構(gòu)造一個無向圖，其中掃描鏈中的掃描單元作為節(jié)點，如果兩個節(jié)點之間能夠共同檢測故障，則存在邊相連。其中，掃描單元之間能夠共同檢測的故障數(shù)看成連線的權(quán)值。將增大故障捕獲概率問題轉(zhuǎn)化為求無向圖最大割的問題，進(jìn)而利用一種貪心算法求解。實驗結(jié)果表明，該方法有效地減少了測試向量的個數(shù)，