無損檢測超聲波檢測二級(jí)試題庫(ut)帶答案_第1頁
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文檔簡介

1、無 損 檢 測超聲波試題 超聲波試題(UT) (UT)一、是非題 一、是非題 1.1 受迫振動(dòng)的頻率等于策動(dòng)力的頻率。 √ 1.2 波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。 ×(應(yīng)該是機(jī)械波) 1.3 由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的,所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。 √1.4 由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的,所以波長等于振幅。 ×1.5 傳聲介質(zhì)的彈性模量越大,密度越小,聲速就越高。 √1.6

2、 材料組織不均勻會(huì)影響聲速,所以對(duì)鑄鐵材料超聲波探傷和測厚必須注意這一問題?!?.7 一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。 × 1.8 由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷,使用 K≥l.5 的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷,靈敏度較低,可能造成漏檢。 √1.9 超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)。 √1.10 超聲波的頻率越高,傳播速度越快。 ×1.11 介質(zhì)能傳播橫波和表面

3、波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。 √1.12 頻率相同的縱波,在水中的波長大于在鋼中的波長。 × 1.13 既然水波能在水面?zhèn)鞑?,那么超聲表面波也能沿液體表面?zhèn)鞑ァ?×1.14 因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的,所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度。×1.15 如材質(zhì)相同,細(xì)鋼棒(直徑Zl 的界面時(shí),聲壓透過率大于 1,說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用。×1.35 超聲

4、波垂直入射到異質(zhì)界時(shí),聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等?!?1.36 超聲波垂直入射時(shí),界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小,聲壓往復(fù)透射率愈低。×1.37 當(dāng)鋼中的氣隙(如裂紋)厚度一定時(shí),超聲波頻率增加,反射波高也隨著增加。√(聲壓反射率 也隨頻率增加而增加) 1.38 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的反射角等于折射角。 ×1.39 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的折射角總大于入射角。 3.

5、5 使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力,但減小了探測范圍。 √3.6 點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。 √ 3.7 雙晶探頭只能用于縱波檢測。 ×3.8 B 型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。 √3.9 C 型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長度和寬度,但不能展現(xiàn)深度。 √ 3.10 通用 AVG 曲線采用的距離是以近場長度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭。 √ 3.11 在通用 AVG 曲線

6、上,可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。 × 3.12 A 型顯示探傷儀,利用 DGS 曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度。 √3.13 電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高,靈敏度高。 × 3.14 多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀。×(應(yīng)是交替工作)3.15 探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。 × (同步電路又稱觸發(fā)電路)3.16 探傷儀中的發(fā)

7、射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。 √ 3.17 探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。×(掃描電路又稱時(shí)基電路,用來產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上,產(chǎn)生一條水平掃描時(shí)基線)3.18 探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大,發(fā)射強(qiáng)度愈弱。 ×(改變阻尼是調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度,阻值越大,發(fā)射強(qiáng)度越強(qiáng),發(fā)射聲能越多,分辨力越小。 )3.19 調(diào)節(jié)探傷儀“

8、深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí),可連續(xù)改變掃描線掃描速度?!蹋◤亩篃晒馄辽匣夭ㄩg距大幅度地壓縮或擴(kuò)展) 3.20 調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí),抑制越大,儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。 × 3.21 調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí),掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。 × 3.22 不同壓電晶體材料中聲速不一樣,因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同?!?3.23 不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣,因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率才

9、能相同。 ×3.24 壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大,則說明該晶片接收性能好。×(壓電應(yīng)變常數(shù) d33 大,發(fā)射性能好,發(fā)射靈敏度高) 3.25 壓電晶片的壓電電壓常數(shù)(g33)大,剛說明該晶片接收性能好?!蹋▌t接收靈敏度就高)3.26 探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素 Qm,減少機(jī)械能損耗。×(加吸收塊是為了減小機(jī)械品質(zhì)因素,Qm 小就表示損耗大,脈沖寬度小,分辨率高)3

10、.27 工件表面比較租糙時(shí),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜。 × 3.28 斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失。×(目的是為了減少雜波)3.29 由于水中只能傳插縱波,所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷。× 3.30 雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大。 ×3.31 有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率半徑愈大,焦距愈大。 √

11、 3.32 利用 IIW 試塊上 Φ50mm 孔與兩側(cè)面的距離,僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍?!?.33 當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn) IIW2 試塊上 R5 曲面時(shí),熒光屏上的多次反射回波是等距離的。× 3.34 中心切槽的半圓試塊,其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。 √ 3.35 與 IIW 試塊相比 CSK-IA 試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭分辨力。 √ 3.36 調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕,將會(huì)改變儀器的水平

12、線性。×(調(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動(dòng)一段距離,但不改變回波間距,故也不會(huì)改變水平線性) 3.37 測定儀器的“動(dòng)態(tài)范圈”時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置。 √ 3.38 盲區(qū)與始波寬度是同一概念。×(盲區(qū)是指從檢測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離,盲區(qū)的大小與 儀器的阻塞時(shí)間和始脈沖寬度有關(guān))3.39 測定組合靈敏度時(shí),可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕,使電噪聲電平≤

13、l0%,再進(jìn)行測試。 × 3.40 測定“始波寬度”對(duì),應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。 ×(靈敏度應(yīng)調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)“0”點(diǎn))3.41 為提高分辨力,在滿足探傷靈敏度要求情況下,儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些?!?3.42 在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中,脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。 × 3.43 雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測。 √3.44 溫度對(duì)斜探頭折射角有影響,當(dāng)溫度升高對(duì),折射角將變大?!?/p>

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