SRAM型FPGA SEU故障注入系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著電子工業(yè)的飛速發(fā)展,FPGA由于兼顧高性能及靈活性在數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)及ASIC原型前端設(shè)計(jì)中得到廣泛的應(yīng)用。在空間領(lǐng)域,傳統(tǒng)的反熔絲FPGA由于不可重復(fù)編程以及成本高昂等原因逐漸被SRAM型FPGA所代替。但SRAM型FPGA天生對單粒子的敏感性限制了其本身的應(yīng)用,如何對SRAM型FPGA的單粒子效應(yīng)進(jìn)行評估以及抗輻射加固成為一個(gè)熱點(diǎn)研究。
　　在研究SRAM型FPGA的配置存儲器結(jié)構(gòu)及配置結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,發(fā)現(xiàn)對FPGA配置文件中的

2、幀數(shù)據(jù)進(jìn)行0/1翻轉(zhuǎn)可以實(shí)現(xiàn)配置存儲器的人為翻轉(zhuǎn),從而來仿真FPGA的SEU效應(yīng),這就為SRAM型FPGA的故障注入提供了理論基礎(chǔ)。本文基于此設(shè)計(jì)了一個(gè)對SRAM型FPGA的故障注入系統(tǒng)。
　　本文設(shè)計(jì)的故障注入系統(tǒng)是基于部分重構(gòu)技術(shù)實(shí)現(xiàn)的,充分利用Xilinx公司開發(fā)工具EDK的支持。硬件部分包含Power PC處理器、外部存儲器、ICAP、測試電路IP核,其中ICAP是FPGA的內(nèi)部端口,可以直接對配置存儲器進(jìn)行讀寫操作。軟件

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