改進(jìn)SEIR方法的高精度ADC測(cè)試研究.pdf_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

1、高精度ADC測(cè)試一直是混合信號(hào)測(cè)試中的難點(diǎn)。傳統(tǒng)的ADC測(cè)試都是使用比被測(cè)ADC精度更高的信號(hào)源，盡管這些信號(hào)源可以產(chǎn)生高精度的測(cè)試信號(hào)，但是其精度往往不能達(dá)到標(biāo)稱(chēng)要求，導(dǎo)致高精度ADC的測(cè)試成本昂貴甚至難以全面測(cè)試，因此如何最大程度地減小信號(hào)源誤差已成為全面測(cè)試高精度ADC的研究重點(diǎn)。
　　論文首先介紹了高精度ADC的基本測(cè)試方法，包括傳統(tǒng)的直方圖法和FFT方法，分析了已有的SEIR(信號(hào)源誤差的辨別和減小)方法，重點(diǎn)基于傅里葉

2、級(jí)數(shù)展開(kāi)改進(jìn)了SEIR方法中的算法，并且基于這種改進(jìn)算法提出一種高精度ADC的測(cè)試方案，即在測(cè)試電路中引入幾組相干的低精度信號(hào)計(jì)算出信號(hào)源中存在的誤差，并將它從信號(hào)源中最大程度移除，從而更加準(zhǔn)確地估計(jì)高精度ADC的參數(shù)。論文對(duì)改進(jìn)的SEIR算法和ADC的測(cè)試電路進(jìn)行matlab仿真驗(yàn)證，仿真了8位、12位和16位的ADC，仿真結(jié)果證明：改進(jìn)的方法提高了基本SEIR方法的測(cè)試精度，并且與標(biāo)稱(chēng)的實(shí)際值相比誤差小于5％。
　　論文基于N

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