高精度ΣΔADC的測試方案研究與性能分析.pdf

1、現(xiàn)代通信系統(tǒng)、網(wǎng)絡(luò)傳輸系統(tǒng)、計算機多媒體系統(tǒng)中數(shù)字系統(tǒng)的設(shè)計得到了跨越式發(fā)展。模擬和數(shù)字之間接口電路的速度與精度成為數(shù)字系統(tǒng)未來蓬勃發(fā)展的關(guān)鍵和瓶頸。其相應(yīng)地高精度ADC的性能測試技術(shù)和功能驗證方案的要求也愈來愈高，已逐步升級為一道需要解決的重要技術(shù)障礙，阻擋我國信息技術(shù)的革新。
　　論文首先簡要地對斜坡電壓測試法和柱形圖測試法進行了敘述，全面性的分析了動態(tài)測試原理及技術(shù)，描述了ADC的數(shù)據(jù)傳輸架構(gòu)。對ΣΔADC的基本原理、性能指

2、標、測試端口和芯片封裝作了概況，較為詳細闡述了常用測試參數(shù)的定義。
　　隨后研究了測試方案，在測量高精度 ADC時域上的采樣信號時，受高精度ADC中時鐘抖動效應(yīng)和數(shù)字電路系統(tǒng)中的信號源以及其自身頻率精度的干擾，相應(yīng)的離散傅立葉變換應(yīng)用方法和高穩(wěn)定、低噪聲電壓源的設(shè)計是非常必要的。此外還討論了窗函數(shù)處理技術(shù)中不同窗函數(shù)對于頻譜泄漏問題的不同處理效果及解決辦法。
　　最后，采用高精度信號源來搭建性能測試平臺和功能驗證系統(tǒng)。在同一