在線測試中應用JTAG技術的研究.pdf

1、在線測試(ICT-In Circuit Test)主要目的是測試電路板上的元件在生產(chǎn)過程中是否出現(xiàn)一系列影響其性能的問題,如元件空焊、引腳短路、開路及錯件等。電路板設計中的許多問題同樣也可以通過在線測試檢查出來,從而降低生產(chǎn)成本。在線測試主要利用“針床”的技術,這種技術的測試原理是待測電路板上的元件引腳與測試點相連,測試點與治具上的測試探針相連接,測試探針通過治具上的繞線與測試機的界面針進行數(shù)據(jù)的傳送和接收,從而來判斷待測元器件是否測試

2、通過。芯片的集成度隨著電子行業(yè)的發(fā)展,而變得越來越高,這樣就會導致芯片引腳間距的變小,但功能卻更強,如BGA。這樣對治具精確放置探針和測試程序的開發(fā)都帶來極大難度。但是,這些問題是可以被邊界掃描技術解決的,而邊界掃描測試怎樣在在線測試中實現(xiàn),如何提高測試覆蓋率,這都對電路板測試行業(yè)提出了挑戰(zhàn)。
　　本文介紹了常用的ICT測試方法和邊界掃描測試的基本原理,分析了如何通過DFT技術使邊界掃描測試能更好的應用于在線測試,并通過具體的案例

3、研究 JTAG技術在在線測試上的應用。分析了AC boundary scan即1149.6和Cover Extend這兩種測試方法的基本原理及在在線測試上的具體應用。對于利用JTAG技術在ICT上對CPLD進行燒錄,本文也以Xilinx公司的XCR2C256為例,分析了基于Agilent3070平臺的程序開發(fā)步驟及相關調(diào)試技巧。在零件輸出端觀察其輸入/輸出數(shù)據(jù)是邊界掃描技術的突出優(yōu)點,而測試數(shù)據(jù)是與芯片上的核心邏輯沒有關系的。在該技術中

4、,元件的輸入輸出引腳的測試是通過串行矢量來實現(xiàn)的。開發(fā)串行矢量不需要學習元件的內(nèi)核電路,其測試協(xié)議對任何元件產(chǎn)生的測試矢量都相同,所以對于工程師來說開發(fā)簡單。對于傳統(tǒng)的測試方法,元件的測試腳不能植針是不能進行測試的,但JTAG技術可以測試很多即使沒有測試點的元件的引腳的開路、短路,極大的提升了測試覆蓋率。闡述了ICT測試的基本原理,給出了ICT的開發(fā)步驟,并對具體案例進行了分析,從實驗結(jié)果可以看出在ICT中導入JTAG技術確實是一種對于