基于JTAG協(xié)議的離線編程技術(shù)在智能儀表中的應(yīng)用.pdf

1、隨著工藝水平的提高，電子系統(tǒng)的集成度越來越高，因此產(chǎn)品在設(shè)計(jì)過程中要充分考慮到元件、信號(hào)測(cè)試問題，對(duì)于嵌入式系統(tǒng)需要調(diào)試時(shí)能觀察和控制芯片內(nèi)部邏輯、狀態(tài)，正常工作時(shí)調(diào)試通道不影響芯片工作，普通電路內(nèi)部測(cè)試方法已經(jīng)無法滿足實(shí)際需求了，因此邊界掃描測(cè)試方法誕生了。
　　 1985年，聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組JTAG制定了JTAG邊界掃描測(cè)試技術(shù)，邊界掃描技術(shù)符合IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)。邊界掃描設(shè)計(jì)利用簡(jiǎn)單的信號(hào)總線，實(shí)現(xiàn)了對(duì)電子系統(tǒng)進(jìn)行電路

2、連接檢測(cè)、芯片內(nèi)部邏輯觀測(cè)、斷點(diǎn)測(cè)試、在線編程等功能，其降低了電子系統(tǒng)調(diào)試、測(cè)試的難度、節(jié)約了開發(fā)成本、加快上市速度。
　　 JTAG邊界掃描通過對(duì)邊界掃描單元進(jìn)行移位把數(shù)據(jù)以串行方式輸入測(cè)試電路，數(shù)據(jù)以串行方式從測(cè)試電路輸出。因此只需少數(shù)接口即可完成信號(hào)傳輸，減少了對(duì)測(cè)試電路硬件資源的占用。JTAG邊界掃描測(cè)試一般使用交叉調(diào)試，測(cè)試代碼在上位機(jī)生成，通過數(shù)據(jù)總線傳輸?shù)絁TAG調(diào)試器，經(jīng)過調(diào)試器譯碼產(chǎn)生JTAG控制信號(hào)對(duì)測(cè)試電路

3、進(jìn)行邊界掃描、邏輯測(cè)試對(duì)芯片上寄存器和存儲(chǔ)器進(jìn)行訪問、觀察、操作，當(dāng)芯片處于正常工作狀態(tài)時(shí)，邊界掃描寄存器對(duì)芯片來說是透明的，并不影響芯片內(nèi)部電路運(yùn)行和通信，通過使用離線編程的概念使對(duì)片上FLASH操作無需上位機(jī)即可操作。
　　 本文通過對(duì)JTAG邊界掃描技術(shù)的研究、分析并設(shè)計(jì)了邊界掃描測(cè)試軟核功能函數(shù)、離線編程器硬件電路，通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了JTAG邊界掃描基本功能函數(shù)包括時(shí)鐘輸入、模式驅(qū)動(dòng)、數(shù)據(jù)輸入、數(shù)據(jù)讀出等函數(shù)的功能，同時(shí)取得