某電子控制系統(tǒng)自動測試系統(tǒng)開發(fā)及SRAM內(nèi)建測試方法研究.pdf

1、本文由自動測試系統(tǒng)(Automatic Test System，ATS)開發(fā)和SRAM（靜態(tài)隨機讀寫存儲器）內(nèi)建測試方法研究兩部分組成。首先，電子控制系統(tǒng)是某型號大型電子裝備的核心控制部件，有必要對其進行全面的功能、性能檢測和故障診斷等工作。目前普遍采用內(nèi)建測試(Built in Test，BIT)技術(shù)和自動測試(Automatic Test，AT)技術(shù)開展電子產(chǎn)品的可測試性工作。然而，該技術(shù)面臨故障檢測率(Fault Detectio

2、n Rate，F(xiàn)DR)低、故障虛警率(Fault Alarm Rate，F(xiàn)AR)高等問題，嚴重降低其診斷結(jié)果的可信度。因此，在第二部分進行了對SRAM內(nèi)建測試方法的深入研究，從故障模型和測試算法研究與優(yōu)化入手，改進測試算法使其能檢測出更多的SRAM故障。除此之外，可測試性工作通常由各科研單位獨立研制，缺乏統(tǒng)一性、規(guī)范性和通用性。因此，在充分考慮現(xiàn)狀之后，本文開展以下研究工作:
　　(1)以往的測試方法是根據(jù)硬件電路的可測試點建立測

3、試項目，然而該方法不具有通用性且測試覆蓋率較低。本文將電子控制系統(tǒng)劃分為六大功能模塊，并分析各功能模塊的故障模型、BIT設(shè)計特點，為其建立內(nèi)建測試項目。
　　(2)在集成CPCI板卡的自動測試設(shè)備上開發(fā)自動測試系統(tǒng)上位機平臺，以衡量BIT對電子產(chǎn)品故障診斷能力。同時，為了減少同類自動測試設(shè)備的開發(fā)周期、成本以及提高軟件后期維修和維護便利性，開發(fā)類驅(qū)動接口層軟件，分離了上層界面和底層驅(qū)動，此方法具有較好的可移植性。
　　(3)

4、針對故障檢測率低的問題，本文將研究重心轉(zhuǎn)移到存儲器故障檢測上。由于存儲器成為SoC中極為重要的組成部分且存儲器在SoC占據(jù)極高的面積比例，本文重點針對存儲器之一的靜態(tài)隨機讀寫存儲器(Static Random Access Memory,SRAM)故障模型及其測試算法進行深入研究，并針對每一種單一故障和耦合故障總結(jié)其最簡測試算法，經(jīng)過合并優(yōu)化，然后推導(dǎo)出具有較高故障檢測率的March C-SOF+算法。提高SRAM的故障檢測率從而提高整