雙頻段射頻輻射抗干擾測試方法研究.pdf

1、如今，科技日新月益地發(fā)展給我們的生活帶來更多便利的同時，也給我們的生存環(huán)境中帶來了的越來越嚴(yán)重的電磁污染。電子產(chǎn)品的電磁兼容能力是保證電子產(chǎn)品之間能夠互不干擾地共存的關(guān)鍵，所以關(guān)于該領(lǐng)域的檢測也越來越受到國際上的重視。
　　現(xiàn)行的射頻電磁場輻射抗擾度測試方法是射頻功率放大器對測試頻率范圍內(nèi)的射頻信號逐個頻點依次進(jìn)行放大，通過天線發(fā)射干擾信號對被測樣品進(jìn)行檢測，該測試方法被包括國際電工委員會在內(nèi)的各國際機構(gòu)所認(rèn)可并廣泛的被運用。但是

2、該測試方法冗長的測試時間使得原本就相對供不應(yīng)求的測試場地資源顯得更加捉襟見肘，因此研究一種速度較快并且準(zhǔn)確的新測試方法是目前各大國際標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證體系及相關(guān)測試機構(gòu)單位正在著力研究的課題。
　　本文的研究課題擬在目前現(xiàn)有技術(shù)及設(shè)備的條件下，以提高測試速度為目的，保證測試準(zhǔn)確度為前提，建立一個新的、更高效率的射頻電磁場輻射抗擾度測試方法——雙頻段射頻輻射抗擾度測試法,通過對比兩種測試方法的結(jié)果，驗證新的測試方法是否可靠、正確，為有關(guān)產(chǎn)品的