gjb128a-1997半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

1、中華人民共和國國家軍用標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法TestmethodsForsemicondctordiscretedevicesGJB128A97代替GJB128861范圍1.1主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體分立器件以下簡稱器件的通用試驗(yàn)方法包括軍用條件下抗損害能力的基本環(huán)境試驗(yàn)機(jī)械性能試驗(yàn)和電特性測(cè)試1.2適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)適用于軍用半導(dǎo)體分立器件1.3應(yīng)用指南1.3.1規(guī)定試驗(yàn)室中的試驗(yàn)條件要適當(dāng)使試驗(yàn)結(jié)果等效于現(xiàn)場(chǎng)使用結(jié)果試驗(yàn)結(jié)果要能再

2、現(xiàn)但這不能理解為試驗(yàn)條件完全等同某一地區(qū)真實(shí)的工作條件這是因?yàn)橹挥性谀骋坏貐^(qū)實(shí)際工作的試驗(yàn)才是那個(gè)地區(qū)真實(shí)的工作試驗(yàn)用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)描述各種通用半導(dǎo)體器件規(guī)范中性質(zhì)相似的試驗(yàn)方法時(shí)就可以使這些方法保持統(tǒng)一從而可以充分利用設(shè)備設(shè)施和節(jié)省工時(shí)為了達(dá)到這一目標(biāo)要使每一種通用試驗(yàn)方法適用于多種器件1.3.2在詳細(xì)規(guī)范中引用本標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)方法時(shí)應(yīng)注明本標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)試驗(yàn)方法編號(hào)及所引用試驗(yàn)方法中應(yīng)規(guī)定的細(xì)節(jié)2引用文件GB313188錫鉛焊料GB402386半導(dǎo)

3、體分立器件第2部分整流二極管GB402483半導(dǎo)體器件反向阻斷三極晶閘管的測(cè)試方法GB458694半導(dǎo)體器件分立器件第8部分場(chǎng)效應(yīng)晶體管GB458794半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第7部分雙極型晶體管GB657086微波二極管測(cè)試方法GB657194半導(dǎo)體器件分立器件第3部分信號(hào)包括開關(guān)和調(diào)整二極管GB949188錫焊用液態(tài)焊劑松香基GB1149989半導(dǎo)體分立器件文字符號(hào)GB1230090功率晶體管安全工作區(qū)測(cè)試方法GB33A97半導(dǎo)

4、體分立器件總規(guī)范GIB360A96電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB762.1一89半導(dǎo)體器件輻射加固試驗(yàn)方法中子輻照試驗(yàn)GJB762.389半導(dǎo)體器件輻射加固試驗(yàn)方法г瞬時(shí)拍輻照試驗(yàn)GJB1209一91微電路生產(chǎn)線認(rèn)證用試驗(yàn)方法和程序C.規(guī)定溫度下限的試驗(yàn)例如老煉和壽命試驗(yàn)等在試驗(yàn)要求規(guī)定有試驗(yàn)溫度下限時(shí)試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)和控制應(yīng)使得工作區(qū)域內(nèi)任一點(diǎn)的溫度與規(guī)定的溫度下限的偏差不超過80或80以大者為準(zhǔn)但緊靠發(fā)熱樣品處除外4.1.2電測(cè)試頻率除非另

5、有規(guī)定電測(cè)試頻率為100025Hz4.1.3準(zhǔn)確度規(guī)定的極限是在規(guī)定的標(biāo)稱的試驗(yàn)條件下得到的絕對(duì)真值在確定用作測(cè)量值的工作極限時(shí)應(yīng)為測(cè)試誤差包括由于偏離標(biāo)稱的測(cè)試條件引起的給出適當(dāng)?shù)脑Ａ恳允蛊骷?shù)的真值正如它們?cè)跇?biāo)稱測(cè)試條件下那樣處于規(guī)定的權(quán)限以內(nèi)除非另有規(guī)定器件的所有測(cè)試3000類4000類和其它規(guī)定的電參數(shù)應(yīng)保持下述測(cè)試公差和預(yù)防措施雖然在有關(guān)文件中規(guī)定的測(cè)試條件嚴(yán)于下述公差但在一般情況下應(yīng)遵循下述規(guī)定的條件和預(yù)防措施a.偏置條件

6、應(yīng)在規(guī)定位的全3以內(nèi)b.輸入脈沖特性重復(fù)頻率頻率等應(yīng)保持在10以內(nèi)標(biāo)稱值的選擇應(yīng)使得10的變量或?qū)嶋H試驗(yàn)設(shè)備的變量當(dāng)小于10時(shí)不影響規(guī)定值的測(cè)量準(zhǔn)確度或有效性c.擊穿試驗(yàn)所加電壓應(yīng)保持在規(guī)定值的l以內(nèi)d.陰性負(fù)載的誤差應(yīng)是5e.容性負(fù)載的誤差應(yīng)是10或lpF以大者為準(zhǔn)f.感性負(fù)載的誤差應(yīng)是10或5H以大者為準(zhǔn)g.測(cè)量靜態(tài)參數(shù)的誤差應(yīng)在1以內(nèi)h.測(cè)量開關(guān)參數(shù)的誤差應(yīng)在全5或1ns以內(nèi)以大者為準(zhǔn)4.1.3.1試驗(yàn)方法和電路除非在具體試驗(yàn)方法

7、中另有規(guī)定所示的方法和電路為基本測(cè)試方法它們不是唯一能使用的方法和電路但是承制方應(yīng)向有關(guān)單位證明替代方法或電路是等效的并且所給出的結(jié)果在所希望的測(cè)量準(zhǔn)確度之內(nèi)見4.1.34.1.4校準(zhǔn)要求應(yīng)按GJB2712規(guī)定對(duì)承制方測(cè)量或控制生產(chǎn)過程和檢驗(yàn)半導(dǎo)體器件所使用的標(biāo)準(zhǔn)和儀器提供校準(zhǔn)及確認(rèn)程序?qū)τ谀切┎荒茏匪莸綐?biāo)準(zhǔn)和技術(shù)的國家計(jì)量機(jī)構(gòu)的測(cè)量應(yīng)當(dāng)保存好標(biāo)準(zhǔn)樣品一旦需要提供證明時(shí)可用來作為證明合格的依據(jù)另外還應(yīng)符合下列要求a.校準(zhǔn)儀器的準(zhǔn)確度至少

8、比被校儀器的準(zhǔn)確度高四倍但被校準(zhǔn)項(xiàng)目是現(xiàn)代化設(shè)備除外它的準(zhǔn)確度可接近或等于現(xiàn)代化校準(zhǔn)設(shè)備的準(zhǔn)確度在這種情況下四倍要求不適用但是儀器應(yīng)當(dāng)采用國家計(jì)量機(jī)構(gòu)所建立的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)b.除非國家計(jì)量機(jī)構(gòu)推薦較長時(shí)間和得到鑒定機(jī)構(gòu)同意外承制方電氣標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)時(shí)間間隔不得超過一年承制方機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)時(shí)間間隔不得超過兩年4.2取向X取向是器件主軸垂直于加速力方向主截面平行于加速力方向的方向Y取向是器件主軸平行于加速力主基座面向YI或背向Y2加速力作用方向的