測(cè)井監(jiān)督考試題2答案

1、一.選擇題1.蘇東氣田主要?dú)鈱拥牡刭|(zhì)層位是（）。A.延安組延10B.石盒子盒8C.延長(zhǎng)組長(zhǎng)6D.山西組山22.高電阻率儲(chǔ)層采用電流聚焦型的電阻率測(cè)井方法，如（）等。A.雙感應(yīng)B.微球C.雙側(cè)向D.PE答：BC3.儲(chǔ)集層巖粒表面都有一層水被緊緊吸附不能自由移動(dòng)稱（）水。A.殘余B.束縛C.有效答：B4.測(cè)壓裂井溫曲線時(shí)，從壓裂到測(cè)井間隔時(shí)間不超過(guò)（）。A.20小時(shí)B.15小時(shí)C.12小時(shí)答：A5.微球形聚焦與微側(cè)向相比，（）影響顯著減?。?/p>

2、與鄰近側(cè)向相比，其探測(cè)深度變（），不受（）地層的影響。A.井眼；深；原狀；B.泥餅；淺；原狀；C.侵入帶；淺；原狀。6.刻度是為了找出由（）值轉(zhuǎn)換為工程值的線性關(guān)系A(chǔ).測(cè)量；B.校驗(yàn)；C.測(cè)井7.（）測(cè)井是研究聲波在井壁或地層中傳播時(shí)幅度衰減情況，用以解決各種工程和地質(zhì)問(wèn)題，當(dāng)前多用于檢查固井質(zhì)量。A.聲波幅度；B.聲波；C.固放磁8.一般井斜儀傾角校驗(yàn)如下幾點(diǎn)：（）A.0、2、5、10、15、20、30、45；B.5、10、30；C.

3、0、2、5、10、309.目前生產(chǎn)測(cè)井測(cè)吸水剖面資料，測(cè)速要求為（）。A.800米小時(shí)B.600米小時(shí)C.1000米小時(shí)答：A二.問(wèn)答題1.測(cè)井儀器為什么要進(jìn)行刻度？刻度的方法有幾種？答：刻度的目的主要有四個(gè)：（1）建立高精度測(cè)量地層儲(chǔ)集參數(shù)的基礎(chǔ)；（2）檢查下井儀器工作是否正常；（3）檢查下井儀器的線性、一致性和穩(wěn)定性；（4）對(duì)測(cè)井儀器計(jì)量，使儀器標(biāo)準(zhǔn)化.刻度的方法有兩種：（1）兩點(diǎn)或多點(diǎn)刻度法；（2）一點(diǎn)刻度法。2自然伽碼測(cè)井原理和

4、應(yīng)用？自然伽碼測(cè)井原理和應(yīng)用？答：自然伽碼測(cè)井是放射性測(cè)井中一種最基本最簡(jiǎn)單的測(cè)井方法，它是采用探測(cè)器直接測(cè)量8.雙側(cè)向測(cè)井資料有哪些主要應(yīng)用？雙側(cè)向測(cè)井資料有哪些主要應(yīng)用？答：雙側(cè)向測(cè)井資料的主要應(yīng)用有：(1)劃分地質(zhì)剖面；(2)快速直觀判斷油（氣）水層；(3)確定地層電阻率。9.影響自然電位的因素有哪些？影響自然電位的因素有哪些？答：(1)泥漿濾液電阻率與地層水電阻率比值(RmfRw)的影響。(2)巖性的影響。(3)溫度的影響。(4

5、)泥漿和地層水化學(xué)成份的影響。(5)地層的厚度及電阻率的影響。(6)井徑擴(kuò)大和侵入帶的影響。10.什么是密度測(cè)井、補(bǔ)償密度測(cè)井和巖性密度測(cè)井？什么是密度測(cè)井、補(bǔ)償密度測(cè)井和巖性密度測(cè)井？答：密度測(cè)井是利用康普頓效應(yīng)測(cè)定地層密度的測(cè)井方法。補(bǔ)償密度測(cè)井是利用長(zhǎng)短源距探測(cè)器測(cè)出的密度差值補(bǔ)償泥餅影響的密度測(cè)井。巖性密度測(cè)井是利用康普頓效應(yīng)和光電效應(yīng)同時(shí)測(cè)定地層密度和光電吸收指數(shù)Pe值的測(cè)井方法。11.套補(bǔ)距套補(bǔ)距答：套管法蘭面距鉆盤方補(bǔ)心的

6、距離，稱為套補(bǔ)距。12.⑴以界系為主線寫出陜甘寧盆地地層序列表，并附以符號(hào)；以界系為主線寫出陜甘寧盆地地層序列表，并附以符號(hào)；⑵以組為主線寫出中部氣田鉆遇地層的組名和符號(hào)組為主線寫出中部氣田鉆遇地層的組名和符號(hào)答：⑴新生界：第四系Q第三系E中生界：白堊系K侏羅系J三選系T上古生界：二選系P石炭系C下古生界：奧陶系O寒武系⑵紙坊組T2Z和尚溝組T1H劉家溝組T1L石千峰組P2Q上石盒子組P2SH下石盒子組P1SH山西組P1S太原組C3T本