實(shí)驗(yàn)一(互換性與公差測量)

1、實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一尺寸測量實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)1—1用立式光學(xué)計(jì)測量塞規(guī)用立式光學(xué)計(jì)測量塞規(guī)一一實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶?shí)驗(yàn)?zāi)康?了解立式光學(xué)計(jì)的測量原理。2熟悉用立式光學(xué)計(jì)測量外徑的方法。3加深理解計(jì)量器具與測量方法的常用術(shù)語。二二實(shí)驗(yàn)內(nèi)容實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1用立式光學(xué)計(jì)測量塞規(guī)。2根據(jù)測量結(jié)果，按國家標(biāo)準(zhǔn)GB1957——81《光滑極限量規(guī)》查出被測塞規(guī)的尺寸公差和形狀公差，作出適用性結(jié)論。三三測量原理及計(jì)量器具說明測量原理及計(jì)量器具說明立式光學(xué)計(jì)是一種精度較高而結(jié)構(gòu)簡單的常用

2、光學(xué)量儀。用量塊作為長度基準(zhǔn)，按比較測量法來測量各種工件的外尺寸。圖1為立式光學(xué)計(jì)外形圖。圖1它由底座1、立柱5、支臂3、直角光管6和工作臺(tái)11等幾部分組成。光學(xué)計(jì)是利用光學(xué)杠桿放大原理進(jìn)行測量的儀器，其光學(xué)系統(tǒng)如圖2（b）所示。照明光線經(jīng)反射鏡1照射到刻度尺8上，再經(jīng)直角棱鏡2、物鏡3，照射到反射鏡4上。由于刻度尺8位于物鏡3的焦平面上，故從刻度尺8上發(fā)出的光線經(jīng)物鏡3后成為平行光束。若反射鏡4與物鏡3之間相互平行，則反射光線折回到焦

3、平面，刻度尺象7與刻度尺8對稱。若被測尺寸變動(dòng)使測桿推動(dòng)反射鏡4繞支點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)某一角度a（圖2（a）），則反射光線相對于入射光線偏轉(zhuǎn)與量塊，并能在視場中看到刻度尺象時(shí)，將螺釘4鎖緊。（3）細(xì)調(diào)節(jié)：松開緊固螺釘8，轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)節(jié)螺母2使支臂3緩慢下降直到測頭與量塊上測量面輕微接觸并能在視場中看到刻度尺象時(shí)將螺釘4鎖緊。（4）細(xì)調(diào)節(jié)：松開緊固螺釘8，轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)節(jié)凸輪7，直至在目鏡中觀察到刻度尺象與指示接近為止（圖3a）。然后擰緊螺釘8。?（5）微調(diào)節(jié)：轉(zhuǎn)

4、動(dòng)刻度尺微調(diào)螺釘6（圖2b）使刻度尺的零線影象與指示線重合?（圖3b），然后壓下測頭提升杠桿9數(shù)次，使零位穩(wěn)定。(6)將測頭抬起，取下量塊。4、測量塞規(guī)：按實(shí)驗(yàn)規(guī)定的部位（在三個(gè)橫截面上的兩個(gè)相互垂直的徑向位置上）進(jìn)行測量，把測量結(jié)果填入實(shí)驗(yàn)報(bào)告。5、從國家標(biāo)準(zhǔn)GB1957——81查出塞規(guī)的尺寸公差和形狀公差，并判斷塞規(guī)的適用性。圖3思考題思考題1、用立式光學(xué)計(jì)測量塞規(guī)屬于什么測量方法？絕對測量與相對測量各有何特點(diǎn)？2、什么是分度值、刻

5、度間距？它們與放大比的關(guān)系如何？3、儀器工作臺(tái)與測桿軸線不垂直，對測量結(jié)果有何影響？工作臺(tái)與測桿軸線垂直度如何調(diào)節(jié)？4、儀器的測量范圍和刻度尺的示值范圍有何不同？實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)1—2用內(nèi)徑百分表或臥式測長儀測量內(nèi)徑用內(nèi)徑百分表或臥式測長儀測量內(nèi)徑一、一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶?shí)驗(yàn)?zāi)康?、熟悉測量內(nèi)徑常用的計(jì)量器具和方法。2、加深對內(nèi)尺寸測量特點(diǎn)的了解。二、二、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1、用內(nèi)徑百分表測量內(nèi)徑。2、用臥式測長儀測量內(nèi)徑。三、三、測量原理及計(jì)量器具說明