超聲波探傷檢驗(yàn)操作規(guī)程

1、超聲波探傷檢驗(yàn)操作規(guī)程1適用范圍本檢驗(yàn)規(guī)程敘述的是使用A型脈沖反射式超聲波探傷儀對(duì)承壓設(shè)備用原材料及零部件等內(nèi)部進(jìn)行的一種無損檢測(cè)。2引用標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范ASME第五卷第五章材料及制品的UT檢驗(yàn)方法、API規(guī)范4F，6A，7K，8C，16A，16C。JBT79131995超聲波檢驗(yàn)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法、JBT4730.12005承壓設(shè)備無損檢測(cè)第1部分：通用要求、JBT4730.32005承壓設(shè)備無損檢測(cè)第3部分：超聲檢測(cè)、JBT9

2、2141999A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試法、JBT100611999A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件、JBT100621999超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法、JBT100631999超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件、ASNTTC1A無損檢測(cè)人員的資格鑒定3超聲波檢測(cè)人員3.1從事承壓設(shè)備的原材料和零部件等無損檢測(cè)的人員，應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢查人員考核與監(jiān)督管理規(guī)定》和ASNTTC1A的要求取得相應(yīng)無損檢測(cè)資格。3.2無損

3、檢測(cè)人員資格級(jí)別分為：Ⅲ（高）級(jí)、Ⅱ（中）級(jí)、Ⅰ（初）級(jí)。取得不同無損檢測(cè)方法各資格級(jí)別的人員，只能從事與該方法和該資格級(jí)別相應(yīng)的無損檢測(cè)工作，并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。3.3無損檢測(cè)人員應(yīng)根據(jù)ASNTTC1A的規(guī)定每年進(jìn)行一次視力檢查。4檢驗(yàn)設(shè)備、器材和材料4.1超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。4.2超聲波探傷儀A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz~10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線

4、性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的4.6.7對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合JBT4730.32005的規(guī)定。5被檢工件表面的準(zhǔn)備5.1需要檢驗(yàn)的鍛件表面不應(yīng)有外來物質(zhì)，如松散的氧化皮、油漆或污物等。5.2檢測(cè)面的表面粗糙度不超過6μm。5.3圓形鍛件，應(yīng)機(jī)械加工出圓柱形的表面，以便作徑向檢驗(yàn)。5.4鍛件的端面應(yīng)加工成與鍛件軸線垂直，以便進(jìn)行軸向檢測(cè)。5.5圓盤形和矩形鍛件的表面應(yīng)加工平直，而且要互相平行。6檢測(cè)操作程序及工藝6.

5、1檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定、6.1.1使用儀器與斜探頭系統(tǒng)時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)按照J(rèn)BT4730.32005的規(guī)定選用合適的試塊，測(cè)定探頭前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。6.1.2使用儀器與直探頭系統(tǒng)時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)按照J(rèn)BT4730.32005的規(guī)定選用合適的試塊，測(cè)定探頭始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。6.2檢測(cè)過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核6.2.1校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生

6、改變時(shí)應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核。6.2.2檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核。6.2.3連續(xù)工作4小時(shí)以上及工作結(jié)束時(shí)應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核。6.3檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核6.3.1在每次檢驗(yàn)開設(shè)和結(jié)束、當(dāng)檢驗(yàn)人員變動(dòng)時(shí)以及至少懷疑有故障的時(shí)候應(yīng)對(duì)設(shè)備的某些功能進(jìn)行核對(duì)并用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。6.3.2核對(duì)時(shí)如確定探傷設(shè)備某些功能失效，所有上次設(shè)備有效校準(zhǔn)以來檢測(cè)的產(chǎn)品應(yīng)全部重新檢驗(yàn)。6.3.3每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描