x射線熒光光譜分析法在礦石檢測(cè)中的應(yīng)用【文獻(xiàn)綜述】_第1頁(yè)
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1、文獻(xiàn)綜述文獻(xiàn)綜述應(yīng)用化學(xué)應(yīng)用化學(xué)X射線熒光光譜分析法在礦石檢測(cè)中的應(yīng)用一、歷史背景:我國(guó)及世界經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展使礦石測(cè)試工作經(jīng)濟(jì)全球化的日漸明顯使小區(qū)域自給自足式經(jīng)濟(jì)解體巖礦測(cè)試工作也面臨著一場(chǎng)更加深刻的變革,必須隨之調(diào)整是科學(xué)技術(shù)的飛速進(jìn)步使巖礦分析由勞動(dòng)密集型的經(jīng)典分析向技術(shù)密集型的現(xiàn)代化自動(dòng)儀器分析轉(zhuǎn)變?cè)械娜藛T結(jié)構(gòu)及技術(shù)結(jié)構(gòu)亦必須隨之調(diào)整。就以傳統(tǒng)專業(yè)的化學(xué)分析而論新方法層出不窮老方法也不斷現(xiàn)代化。我們所熟悉的光譜分析目前已發(fā)展為

2、一個(gè)龐大的家族。它的原子光譜分析包括發(fā)射光譜(等離子發(fā)射光譜、等離子質(zhì)譜等)、紅外光譜、紫外可見(jiàn)光光譜、X射線熒光光譜、原子吸收光譜、原子熒光光譜等可以自動(dòng)地進(jìn)行多元素測(cè)定檢出限可以達(dá)到109。它的分子光譜分析包括紫外分子分光光譜、紅外分子光譜、拉曼光譜、分子熒光光譜、化學(xué)發(fā)光及生物發(fā)光光譜等可以使研究工作進(jìn)入到分子水平在尋找隱伏礦床、環(huán)境科學(xué)和生物工程等領(lǐng)域有著廣泛的用途。二、研究現(xiàn)狀:礦石成分的傳統(tǒng)檢測(cè)方法主要有滴定法、重量法和比色

3、法等化學(xué)分析方法,化學(xué)法準(zhǔn)確度較好,精確度高,適合常規(guī)監(jiān)測(cè)但分析元素單一,操作繁瑣周期較長(zhǎng)分析結(jié)果受分析人員及各種試劑因素影響大。現(xiàn)代儀器分析方法如原子吸收光譜法、原子熒光光譜法、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法等應(yīng)用于部分低含量元素的測(cè)定對(duì)礦石中微量元素有較高的靈敏度但樣品前處理比較復(fù)雜基體干擾大對(duì)主量組分的測(cè)定結(jié)果不能令人滿意。目前得到廣泛應(yīng)用的X射線熒光光譜儀是一種高精度的現(xiàn)代化分析儀器非常適合于礦石的分析。因此我們有必要先來(lái)簡(jiǎn)單了解下

4、幾種儀器分析方法的特點(diǎn),對(duì)我們掌握X射線熒光光譜法分析礦石檢測(cè)有很大幫助。Ⅰ、火焰原子吸收法:選擇性強(qiáng),靈敏度高,分析范圍廣抗干擾能力強(qiáng),精密度較好。它的缺點(diǎn)有:1、測(cè)定元素不同,需要更換光源燈;2、不適于測(cè)定難熔元素的靈敏度;3、可測(cè)定常用元素較少;4、精密度比分光光度法差,在高背景低含量樣品測(cè)定任務(wù)中,精密度下降;5、線性范圍窄。Ⅱ、電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定:ICPMS是一種新型的無(wú)機(jī)元素分析技術(shù)具有方X射線熒光光譜分析法在礦石檢

5、測(cè)中的應(yīng)用(論文題目)2[5]潘建華,趙桂蘭.X射線熒光光譜法測(cè)定鐵礦石中組分[J].青??萍?0103[6]劉江斌趙峰.X射線熒光光譜法同時(shí)測(cè)定地質(zhì)樣品中鈮鉭鋯鉿鈰鎵鈧鈾等稀有元素[J].巖礦測(cè)試2010l(29):74~76[7]張建波林力劉在美.X射線熒光光譜法同時(shí)測(cè)定鈦精礦中主次量組分[J].巖礦測(cè)試2010,l(28):188~190[8]謝瓊心.X射線熒光光譜分析法測(cè)定多金屬礦中的鉛鋅銅[J].分析試驗(yàn)室,1997,16(5

6、)[9]彭會(huì)清羅鳴坤,曹永丹等.X射線熒光光譜分析法在檢測(cè)鐵礦石組分中的應(yīng)用[J].現(xiàn)代礦業(yè)2009,11(11)[10]李國(guó)會(huì)卜維樊守忠.X射線熒光光譜法測(cè)定硅酸鹽中硫等20個(gè)主、次、痕量元素[J].光譜學(xué)與光譜分析199414(1):105110[11]梁述廷劉玉純胡浩.X射線熒光光譜法同時(shí)測(cè)定土壤樣品中碳氮等多元素[J].巖礦測(cè)試200423(2):102108.[12]應(yīng)曉滸林振興曹國(guó)洲.金相組織變化對(duì)X射線熒光光譜法測(cè)定黃銅中

7、銅鉛鐵的影響及校正[J].分析化學(xué)200432(10):13851388.[13]普旭力王鴻輝,葉淑愛(ài)等.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法同時(shí)測(cè)定鎢精礦中主次量組分[J].巖礦測(cè)試2010,2(29):143~147[14]薛秋紅李靜,丁玉龍等.玻璃熔片制樣X(jué)射線熒光光譜法測(cè)定礬土中主次量組分[J].巖礦測(cè)試2010,2(29):182~184[15]王祎亞詹秀春,樊興濤等.粉末壓片X射線熒光光譜法測(cè)定地質(zhì)樣品中痕量硫的礦物效應(yīng)佐證實(shí)驗(yàn)及其應(yīng)用

8、[J].冶金分析201030(1):711[16]盧振國(guó)黃文嫻彭速標(biāo)翟翠萍鄭建國(guó)劉健斌鐘志光.自動(dòng)電位滴定法測(cè)定鐵礦中水溶性氯化物[J].理化檢驗(yàn):化學(xué)分冊(cè)200743(9):732734.[17]胡堅(jiān),郭紅麗,杜軍衛(wèi)等.鋯英石質(zhì)耐火材料的X射線熒光光譜分析法[J].耐火材料,200236(1):46~4750[18]曾波付韜賀鈾付志軍.庫(kù)侖滴定在錳礦石中硫的分析應(yīng)用[J].中國(guó)錳業(yè)200321(3):4142.[19]李田義柯玲.濾紙

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