邊界掃描測(cè)試技術(shù)原理_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

1、邊界掃描測(cè)試技術(shù)原理,員工培訓(xùn)中心2005年11月15日,課程目的,1、了解邊界掃描器件的基本結(jié)構(gòu);2、了解邊界掃描測(cè)試技術(shù)的原理;3、了解邊界掃描描述語(yǔ)言BSDL的基本格式;4、了解邊界掃描測(cè)試技術(shù)的主要應(yīng)用;5、了解邊界掃描JTAG接口的設(shè)計(jì)規(guī)范;,課程目錄,課程目錄,1.1 什么是JTAG ?,1.2 使用JTAG的好處,2.1 邊界掃描器件的結(jié)構(gòu),2.2 邊界掃描器件的結(jié)構(gòu),2.3 TAP-Test Access Po

2、rt,2.4 控制器的16位狀態(tài)機(jī),2.5 TAP控制器,2.6 TAP控制器口線功能和關(guān)系1,2.7 TAP控制器口線功能和關(guān)系2,3.1 JTAG電路指令,3.2 JTAG電路指令碼,3.3 BSDL簡(jiǎn)單介紹,3.4 BYPASS指令的執(zhí)行,,,,,進(jìn)入BYPASS狀態(tài)后,TDI和TDO之間只有1BIT位,3.5 EXTEST指令的執(zhí)行,進(jìn)入EXTEST狀態(tài)后,可以對(duì)器件的管腳進(jìn)行測(cè)試,3.6 INTEST指令的執(zhí)行,進(jìn)入INTES

3、T狀態(tài)后,對(duì)器件的內(nèi)部邏輯進(jìn)行測(cè)試,4.1 邊界掃描的主要應(yīng)用-TAPIT,4.2 邊界掃描的主要應(yīng)用-TAPIT,TAPIT:TAP Integrity Test,4.3 邊界掃描的主要應(yīng)用-BICT,4.4 邊界掃描的主要應(yīng)用-BICT,BICT:BoundaryScan In Circuit Test,4.5 邊界掃描的主要應(yīng)用-VIT,4.6 邊界掃描的主要應(yīng)用-VIT,VIT:Virtual Interconnect Test

4、,4.7 邊界掃描的主要應(yīng)用-VCCT,4.8 邊界掃描的主要應(yīng)用-VCCT,VCCT:Virtual Component Cluster Test,4.9 邊界掃描的主要應(yīng)用-PPT,4.10 邊界掃描的主要應(yīng)用-PPT,PPT:Parallel Port Test,4.11 邊界掃描的主要應(yīng)用-ILDP,4.12 邊界掃描的主要應(yīng)用-ILDP,ILDP:In line Device Program,5.1 邊界掃描設(shè)計(jì)規(guī)范,5.2

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