半導(dǎo)體企業(yè)產(chǎn)能規(guī)劃過程的不確定度、靈敏度分析.pdf

1、半導(dǎo)體企業(yè)的產(chǎn)能規(guī)劃過程是工業(yè)工程領(lǐng)域研究的一個重點。一方面是由于復(fù)雜的制造工藝、技術(shù)的快速更新、日益縮短的產(chǎn)品生命周期和多變的市場需求，使其產(chǎn)能規(guī)劃過程充滿了不確定性。另一方面，又由于昂貴的設(shè)備和廠房以及漫長的設(shè)備交付時間，使得半導(dǎo)體企業(yè)面臨著巨大的風(fēng)險。 當(dāng)前多數(shù)企業(yè)的產(chǎn)能規(guī)劃過程依舊采用“點預(yù)測”，即預(yù)測值為一固定的數(shù)值，這必然不能很好地反映企業(yè)未來將面臨的不確定性。如何將“點預(yù)測”改進為“區(qū)間預(yù)測”，引入不確定性的概念正

2、是本研究項目的關(guān)鍵。半導(dǎo)體企業(yè)的產(chǎn)能規(guī)劃一般分為長期、中期和短期規(guī)劃。本文所關(guān)注的正是那些屬于中短期規(guī)劃的因素對長期規(guī)劃不確定性的影響。我們試圖尋找有效的方法以量化中短期因素的不確定性以及這些不確定性對長期產(chǎn)能規(guī)劃的影響程度。 本文的內(nèi)容主要包括半導(dǎo)體產(chǎn)能規(guī)劃過程中的不確定度量化、不確定度傳遞和全局靈敏度分析三大部分。有關(guān)不確定度的量化，依次討論了數(shù)據(jù)的收集與準備、異常點檢測、數(shù)據(jù)的分類和不確定度的計算過程。其中，對于異常點檢測

3、，我們采用了結(jié)合β統(tǒng)示理論的改進箱線圖，使其能更好地處理非對稱分布的樣本數(shù)據(jù)。不確定度的計算中主要運用傳統(tǒng)的參數(shù)方法，但也對非參數(shù)方法進行了一定的比較分析。關(guān)于不確定度的傳遞，本文分別闡述了蒙特卡羅方法和誤差傳遞方程。兩者也是后面全局靈敏度分析的基礎(chǔ)。全局靈敏度分析用于定量描述模型輸入變量不確定性對模型輸出不確定性的影響程度。這部分首先采用了常用的Sobol方法，它是一種基于方差的全局靈敏度分析。由于Sobol方法僅能用于變量間無相關(guān)性

4、的情況，在運用中有所限制，所以我們提出了一種新的結(jié)合誤差傳遞方程的計算思路。新的方法也屬于基于方差的全局靈敏度分析，其最大的優(yōu)點就是適用于變量間有相關(guān)性的情況。在所有的理論闡述后，一個綜合實例展示了各種方法在實際中的運用、效果以及分析結(jié)果對現(xiàn)實工作的幫助。 本文所采用的數(shù)據(jù)均來自某著名半導(dǎo)體公司的封裝測試廠。我們的最終目的是希望通過研究為該合作企業(yè)提供一個有效而宜于操作的思路和流程，使其長期產(chǎn)能規(guī)劃能加入對不確性的考慮，并在此基