面向測試復用的測試環(huán)和SOC DFT結構設計的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文對面向測試復用的測試環(huán)和SOC DFT結構設計進行了研究。文章介紹了面向嵌入式IP核測試的相關標準和IEEEP1500標準的研究狀況，重點研究了SOC系統(tǒng)級測試架構的設計和IP測試環(huán)的選取與改進，詳細分析了目前常用的幾種測試環(huán)結構和測試環(huán)單元電路，提出了一種新的雙向傳輸測試環(huán)的思想，并給出了這種測試環(huán)單元電路的一種實現方法，保證在正常功能模式狀態(tài)或者某些特定測試狀態(tài)下，該測試環(huán)單元電路能夠在控制信號作用下，實現向IP核輸入數據或者讀

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