一種提高三維成像深度測量分辨率的方法研究.pdf

1、隨著光電子技術(shù)和計算機技術(shù)的發(fā)展，三維成像技術(shù)成為當前科技領(lǐng)域的熱點之一，是科技工作者所關(guān)心的重要的前沿課題。三維成像技術(shù)旨在通過非接觸的途徑獲取目標物體表面在三維空間中的坐標信息，尤其是深度信息。近十年來它得到了較快的發(fā)展，應(yīng)用領(lǐng)域也越來越廣泛，如計算機三維視覺、行走機器人、人體面部及物體三維成像等。隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展和生活水平的提高，上述高科技領(lǐng)域?qū)θS成像的參數(shù)指標也提出了更高的要求。 提高光飛行時間(TOF)三維成像技術(shù)

2、水平，其中一項重要的指標就是提高深度測量分辨率。從光電信號處理角度出發(fā)，經(jīng)分析，深度測量分辨率與信號通道帶寬相關(guān)，帶寬越窄，分辨率越高，就是要設(shè)計出合適的窄帶濾波器。 本論文提出了一種明顯提高深度測量分辨率的方法。應(yīng)用差頻模擬鎖相環(huán)(APLL)專用集成電路KD080H，設(shè)計制作出一種環(huán)路噪聲帶寬小于1Hz的晶體分頻APLL窄帶濾波器，并成功用于TOF三維成像系統(tǒng)。實驗表明，深度測量分辨率優(yōu)于0.5mm，比應(yīng)用50Hz帶寬的MAX