平板顯示器電極缺陷圖像識(shí)別算法的研究.pdf

1、平板顯示器在生產(chǎn)過(guò)程中由于受原材料、生產(chǎn)設(shè)備、工藝水平和生產(chǎn)環(huán)境等因素的影響，不可避免的存在各種各樣的缺陷。缺陷的存在使得顯示質(zhì)量變差，甚至導(dǎo)致產(chǎn)品的報(bào)廢，造成人力、物力資源的浪費(fèi)。因此有必要對(duì)平板顯示器進(jìn)行缺陷檢測(cè)。傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方法容易漏檢、檢測(cè)速度慢、檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)，已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)的需要，快速、高效的檢測(cè)手段已成為研究的重點(diǎn)。 基于圖像處理的缺陷檢測(cè)技術(shù)通過(guò)線陣CCD照相的方式獲得電極的圖像，然后經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)圖像處理和識(shí)別來(lái)判

2、斷缺陷位置及種類。這種檢測(cè)技術(shù)對(duì)工業(yè)生產(chǎn)中實(shí)時(shí)在線檢測(cè)具有重要的意義。 本文從PDP的制造工藝出發(fā)，介紹了PDP的結(jié)構(gòu)、工藝流程及在工藝生產(chǎn)中可能產(chǎn)生的缺陷種類，并詳細(xì)分析了缺陷產(chǎn)生的原因。重點(diǎn)研究了PDP電極缺陷檢測(cè)與識(shí)別算法，通過(guò)對(duì)數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)算法和骨架法缺陷檢測(cè)與識(shí)別原理的分析和比較，提出了一種計(jì)算速度快、識(shí)別準(zhǔn)確率高、適合于平板顯示特別是PDP的電極缺陷檢測(cè)與識(shí)別算法——構(gòu)建模板法。該算法對(duì)顯示區(qū)域的直線電極部分和引出的斜