微處理器全速電流測試實驗研究.pdf

1、隨著集成電路制造技術(shù)的發(fā)展，基于固定型故障模型的電壓測試技術(shù)越來越不能滿足高性能集成電路的需求。為了降低測試成本并且提高集成電路的可靠性，電流測試應(yīng)運而生。電流測試技術(shù)包括穩(wěn)態(tài)電流測試(IDDQTesting)、瞬態(tài)電流測試(IDDTTesting)兩種方法。穩(wěn)態(tài)電流測試目前已經(jīng)實用化，而瞬態(tài)電流測試由于其對測試設(shè)備要求苛刻和其他一些技術(shù)問題仍處于研究階段。針對瞬態(tài)電流測試過于依賴測試設(shè)備的現(xiàn)狀，中科院閔應(yīng)驊教授提出了基于瞬態(tài)電流的全速

2、電流測試方法(IDDATesting)。全速電流測試的可行性已在仿真實驗中得到了驗證，現(xiàn)在需要實測實驗的支持。 微處理器是一種較為特殊的電路，它可不需要外加激勵而依靠程序存儲器自行運轉(zhuǎn)。若以程序作為測試激勵，用全速電流測試方法檢測微處理器，實驗過程將非常容易實現(xiàn)。本文針對微處理器的特點，提出了指令級全速電流測試方法。希望以AT89C51微處理器為例，通過實驗說明用全速電流測試進行微處理器測試是可行的。AT89C51的指令級測試以