嵌入式內(nèi)核的可測(cè)試性設(shè)計(jì)研究.pdf

1、隨著深亞微米集成電路技術(shù)和基于IP復(fù)用的SoC設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展，國際集成電路產(chǎn)業(yè)開始了新一輪分工。新的SoC設(shè)計(jì)方法把系統(tǒng)集成與功能模塊分開，分散了設(shè)計(jì)難度和規(guī)模，能充分發(fā)揮設(shè)計(jì)人員的智力資源優(yōu)點(diǎn)，這為我國微電子工業(yè)趕上世界技術(shù)提供了一個(gè)適合我國國情的切入點(diǎn)。集成電路規(guī)模的不斷擴(kuò)大，基于嵌入式核進(jìn)行可重用設(shè)計(jì)已成為主流技術(shù)。但嵌入式核的來源不同、設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)的不兼容性和電路日趨復(fù)雜等因素，使系統(tǒng)芯片最終測(cè)試的復(fù)雜度遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了人們的想象，測(cè)試費(fèi)

2、用上升到產(chǎn)品開發(fā)總規(guī)劃的70％～80％，大大影響了產(chǎn)品的上市時(shí)間。隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜度的提升，測(cè)試芯片困難度的增加，如何在設(shè)計(jì)初期就開始考慮并解決設(shè)計(jì)完成后的測(cè)試問題，已經(jīng)是一重要課題?！鞍雽?dǎo)體集成化芯片系統(tǒng)基礎(chǔ)研究”是國家自然科學(xué)基金委員會(huì)組織實(shí)施的重大科學(xué)研究計(jì)劃。其宗旨在于：以超過當(dāng)前國際微電子生產(chǎn)水平2至3代的SoC設(shè)計(jì)需要解決的重要科學(xué)問題為研究對(duì)象，開展廣泛、深入的基礎(chǔ)研究，為我國2005年至2010年及其后的微電子科技與IC產(chǎn)業(yè)