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1、隨著電子產(chǎn)業(yè)工藝的進(jìn)化,PCB板線路精細(xì)化、元件微型化的發(fā)展趨勢(shì)對(duì)傳統(tǒng)AOI提出了精度、速度上的挑戰(zhàn)。陣列影像架構(gòu)的的出現(xiàn)解決了速度精度問題,但由于本身結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性,其誤差校正存在很大難度。影像誤差校正的效果直接影響到后期的影像處理、缺陷分析等過程,決定了設(shè)備能否正常運(yùn)行?,F(xiàn)階段的目標(biāo)是設(shè)計(jì)一套完善的AOI影像校正算法,修正設(shè)備的影像誤差。
AOI影像誤差分為色彩失真和幾何誤差,幾何誤差分為模組誤差、PCB整板誤差和溫度變
2、化造成的誤差。其中,模組成像系統(tǒng)本身,包括光源、鏡頭和CMOS芯片本身的缺陷導(dǎo)致影像的色彩失真,機(jī)構(gòu)誤差都導(dǎo)致影像的幾何誤差,陣列影像和搬送機(jī)構(gòu)是幾何誤差的主要來源。
本文對(duì)AOI影像校正算法進(jìn)行了研究:針對(duì)影像的各種誤差設(shè)計(jì)相應(yīng)的校正算法,然后應(yīng)用到AOI設(shè)備系統(tǒng)程序中,最后對(duì)每種校正算法實(shí)施線上實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證并分析實(shí)驗(yàn)結(jié)果。對(duì)于色彩失真,先利用標(biāo)準(zhǔn)RGB校正板統(tǒng)計(jì)色彩增益,然后對(duì)每張實(shí)拍影像進(jìn)行色彩補(bǔ)償,幾何誤差則采用四點(diǎn)校
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