單片機(jī)功能測(cè)試向量生成技術(shù)的研究與故障覆蓋率分析.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，嵌入式單片機(jī)正在發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用，對(duì)嵌入式單片機(jī)的設(shè)計(jì)也就成為科技工作者所關(guān)注的焦點(diǎn)。由于單片機(jī)功能的飛速發(fā)展，它的應(yīng)用范圍日益廣泛，如家用電器、通信、汽車自動(dòng)控制、宇航、工業(yè)自動(dòng)化等。
　　MCS-96系列單片機(jī)是Intel公司生產(chǎn)的CHMOS工藝單片機(jī)，它的指令集具有使用靈活，易于編程等優(yōu)點(diǎn)。本項(xiàng)目就是要設(shè)計(jì)一款兼容其指令集的16位MCU，它特別適用于各類自動(dòng)控制系統(tǒng)。
　　基于Verilog等

2、硬件描述語(yǔ)言的Top-Down設(shè)計(jì)可以由RTL級(jí)模型綜合得到邏輯級(jí)網(wǎng)表，同時(shí)可以使用Synopsys公司的TetraMAX工具分析測(cè)試向量的故障覆蓋率，DFT技術(shù)也是這種設(shè)計(jì)方法的首選。但是，對(duì)于我們這個(gè)16位MCU設(shè)計(jì)項(xiàng)目來(lái)說(shuō)，由于產(chǎn)品性能和工程項(xiàng)目的要求，工業(yè)用的測(cè)試向量就由系統(tǒng)功能驗(yàn)證的測(cè)試激勵(lì)產(chǎn)生，即采用不基于DFT的測(cè)試技術(shù)。
　　本課題研究的目的就在于針對(duì)MCU設(shè)計(jì)項(xiàng)目，由Verilog結(jié)構(gòu)化門(mén)級(jí)網(wǎng)表分析其功能測(cè)試向量

3、的故障覆蓋率。
　　首先建立了基于Verilog-HDL的結(jié)構(gòu)化門(mén)級(jí)網(wǎng)表仿真環(huán)境，包括結(jié)構(gòu)化門(mén)級(jí)網(wǎng)表的提取、指令集編譯器的應(yīng)用、系統(tǒng)外部邏輯模型－程序存儲(chǔ)器的建模和各種激勵(lì)的建立。其次，應(yīng)用Cadence公司的Verilog-XL仿真器對(duì)結(jié)構(gòu)化門(mén)級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行了功能驗(yàn)證，并應(yīng)用Verifault-XL故障仿真器分析了該功能測(cè)試向量的故障覆蓋率。最后，在得到故障覆蓋統(tǒng)計(jì)文件的基礎(chǔ)上，通過(guò)分析故障統(tǒng)計(jì)文件中“status=undetect