面向固定型故障的測(cè)試向量生成與壓縮方法研究.pdf

1、集成電路測(cè)試技術(shù)在集成電路的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和制造過(guò)程中有著重要的意義。為使電路中存在的故障信號(hào)能夠表現(xiàn)出來(lái),完成集成電路的測(cè)試,需要生成對(duì)應(yīng)于確定故障的測(cè)試向量,從而激活電路中的故障。測(cè)試向量龐大的數(shù)據(jù)量也為數(shù)據(jù)傳輸和測(cè)試過(guò)程帶來(lái)了巨大的功耗和硬件開(kāi)銷(xiāo)。測(cè)試向量生成與壓縮可以很好地解決上述問(wèn)題。事實(shí)上，電路中70％以上的故障可以被固定型故障覆蓋,同時(shí)固定型故障又是其他故障模型的基礎(chǔ),所以,對(duì)于固定型故障的測(cè)試向量生成具有重要的意義。因此,從

2、理論的層面開(kāi)展面向固定型故障的測(cè)試向量生成和壓縮方法的研究具有一定的意義。
　　為生成組合和時(shí)序電路的測(cè)試向量,本文研究了測(cè)試生成的經(jīng)典算法——D算法。D算法是一種針對(duì)組合電路的測(cè)試向量生成方法。本文在D算法的基礎(chǔ)上，采用全掃描設(shè)計(jì)的方法,實(shí)現(xiàn)時(shí)序電路的測(cè)試向量生成。除此之外,通過(guò)團(tuán)劃分以及相容向量合并技術(shù)將生成的測(cè)試向量進(jìn)行優(yōu)化處理。利用Visual Studio2008開(kāi)發(fā)環(huán)境實(shí)現(xiàn)基于D算法的測(cè)試向量生成。實(shí)驗(yàn)表明,該方法生成

3、的測(cè)試向量可以實(shí)現(xiàn)高可靠性測(cè)試,并使測(cè)試向量數(shù)目遠(yuǎn)小于電路中所面向的故障數(shù)目。對(duì)ISCAS’85和ISCAS’89基準(zhǔn)電路進(jìn)行測(cè)試生成和仿真驗(yàn)證,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,生成測(cè)試向量的故障覆蓋率為100%。
　　為解決測(cè)試向量數(shù)據(jù)量大的問(wèn)題,本文對(duì)測(cè)試向量壓縮方法展開(kāi)研究。
　　(1)提出了一種基于參考向量和糾錯(cuò)碼的壓縮方法。對(duì)全部測(cè)試向量進(jìn)行獨(dú)立劃分,得到子向量集合,并利用團(tuán)劃分方法選擇出每一個(gè)集合中的參考向量,結(jié)合糾錯(cuò)碼進(jìn)行編碼。